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1. (WO2019028499) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE DE PARAMÈTRES DE FLUX DE MATÉRIAU LE LONG D'UN PASSAGE
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N° de publication : WO/2019/028499 N° de la demande internationale : PCT/AU2018/050819
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 07.08.2018
CIB :
G01F 1/66 (2006.01) ,G01N 21/47 (2006.01) ,G01N 21/85 (2006.01) ,G01N 21/94 (2006.01) ,G01F 1/74 (2006.01) ,G01F 1/86 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
F
MESURE DES VOLUMES, DES DÉBITS VOLUMÉTRIQUES, DES DÉBITS MASSIQUES OU DU NIVEAU DES LIQUIDES; COMPTAGE VOLUMÉTRIQUE
1
Mesure du débit volumétrique ou du débit massique d'un fluide ou d'un matériau solide fluent, dans laquelle le fluide passe à travers le compteur par un écoulement continu
66
en mesurant la fréquence, le déphasage, le temps de propagation d'ondes électromagnétiques ou d'autres types d'ondes, p.ex. débitmètre à ultrasons
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47
Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
85
Analyse des fluides ou solides granulés en mouvement
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
94
Recherche de souillures, p.ex. de poussières
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
F
MESURE DES VOLUMES, DES DÉBITS VOLUMÉTRIQUES, DES DÉBITS MASSIQUES OU DU NIVEAU DES LIQUIDES; COMPTAGE VOLUMÉTRIQUE
1
Mesure du débit volumétrique ou du débit massique d'un fluide ou d'un matériau solide fluent, dans laquelle le fluide passe à travers le compteur par un écoulement continu
74
Dispositifs pour la mesure du débit d'un matériau fluide ou du débit d'un matériau solide fluent en suspension dans un autre fluide
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
F
MESURE DES VOLUMES, DES DÉBITS VOLUMÉTRIQUES, DES DÉBITS MASSIQUES OU DU NIVEAU DES LIQUIDES; COMPTAGE VOLUMÉTRIQUE
1
Mesure du débit volumétrique ou du débit massique d'un fluide ou d'un matériau solide fluent, dans laquelle le fluide passe à travers le compteur par un écoulement continu
76
Dispositifs pour mesurer le débit massique d'un fluide ou d'un matériau solide fluent
86
Débitmètres massiques indirects, p.ex. mesurant le débit volumétrique et la densité, la température ou la pression
Déposants :
COMMONWEALTH SCIENTIFIC AND INDUSTRIAL RESEARCH ORGANISATION [AU/AU]; Clunies Ross Street Acton, Australian Capital Territory 2601, AU
Inventeurs :
MALOS, John; AU
DUNN, Mark; AU
REID, Peter; AU
Mandataire :
SHELSTON IP PTY LTD; Level 9, 60 Margaret Street Sydney, New South Wales 2000, AU
Données relatives à la priorité :
201790318810.08.2017AU
Titre (EN) DEVICE AND METHOD FOR MONITORING MATERIAL FLOW PARAMETERS ALONG A PASSAGE
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE DE PARAMÈTRES DE FLUX DE MATÉRIAU LE LONG D'UN PASSAGE
Abrégé :
(EN) Described herein is a device (1) for measuring parameters of a material (3) flowing along a passage (5), the passage having two longitudinally spaced apart ends and transverse sides defined by one or more sidewalls (7, 9). The device (1) includes a laser source (15) positioned at a first location within or adjacent a side of the passage (5) and configured to generate a laser beam (17) at one or more predetermined frequencies. A beam projection element (21, 27) projects the laser beam (17) transversely across the passage (5) to irradiate the material (3) within a measuring zone (19). The measuring zone (19) includes a transverse region extending greater than 50% of the width of the passage (5). An optical imaging device (29) is positioned at a second location within or adjacent the passage (5) and configured to capture images of backscattered light from material (3) within the measuring zone (19). A processor (41) is in communication with the optical imaging device (29) and is configured to process the captured images and perform a scattering analysis to determine parameters of the material (3) through the passage (5).
(FR) L'invention concerne un dispositif (1) permettant de mesurer des paramètres d'un matériau (3) s'écoulant le long d'un passage (5), le passage possédant deux extrémités espacées longitudinalement et des côtés transversaux définis par une ou plusieurs parois latérales (7, 9). Le dispositif (1) comprend une source laser (15) positionnée à un premier emplacement à l'intérieur ou à proximité d'un côté du passage (5) et conçue pour générer un faisceau laser (17) à une ou plusieurs fréquences prédéterminées. Un élément de projection de faisceau (21, 27) projette le faisceau laser (17) transversalement à travers le passage (5) afin d'irradier le matériau (3) à l'intérieur d'une zone de mesure (19). La zone de mesure (19) comprend une région transversale s'étendant davantage que 50 % de la largeur du passage (5). Un dispositif d'imagerie optique (29) est positionné à un second emplacement à l'intérieur ou à proximité du passage (5) et conçu pour capturer des images d'une lumière rétrodiffusée par un matériau (3) à l'intérieur de la zone de mesure (19). Un processeur (41) est en communication avec le dispositif d'imagerie optique (29) et est conçu pour traiter les images capturées et effectuer une analyse de diffusion afin de déterminer des paramètres du matériau (3) à travers le passage (5).
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)