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1. (WO2019028452) DÉTECTION ET TRAITEMENT D'UNE COUCHE DE MATÉRIAU
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N° de publication : WO/2019/028452 N° de la demande internationale : PCT/US2018/045347
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 06.08.2018
CIB :
B23K 26/352 (2014.01) ,B23K 26/36 (2014.01) ,B23K 26/03 (2006.01) ,B23K 26/062 (2014.01)
[IPC code unknown for B23K 26/352]
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23
MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
K
BRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
26
Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage, perçage
36
Enlèvement de matière
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
23
MACHINES-OUTILS; TRAVAIL DES MÉTAUX NON PRÉVU AILLEURS
K
BRASAGE OU DÉBRASAGE; SOUDAGE; REVÊTEMENT OU PLACAGE PAR BRASAGE OU SOUDAGE; DÉCOUPAGE PAR CHAUFFAGE LOCALISÉ, p.ex. DÉCOUPAGE AU CHALUMEAU; TRAVAIL PAR RAYON LASER
26
Travail par rayon laser, p.ex. soudage, découpage, perçage
02
Mise en place ou surveillance des pièces, p.ex. par rapport au point d'impact; Alignement, pointage ou focalisation du faisceau laser
03
Surveillance des pièces
[IPC code unknown for B23K 26/062]
Déposants :
IPG PHOTONICS CORPORATION [US/US]; 50 Old Webster Road Oxford, MA 01540, US
Inventeurs :
SQUIRES, David; US
BUDD, Andrew; US
DALLAROSA, Joseph; US
Mandataire :
KING, Timothy, J.; US
Données relatives à la priorité :
62/541,28204.08.2017US
Titre (EN) MATERIAL LAYER DETECTION AND PROCESSING
(FR) DÉTECTION ET TRAITEMENT D'UNE COUCHE DE MATÉRIAU
Abrégé :
(EN) Material layer detection and depthwise layer processing is disclosed. A depthwise material profile is generated based on detected optical characteristics of layer material and laser processing is controlled based on a comparison of the depthwise material profile and measured optical properties of a layer. Laser processing may be controlled to avoid damage to underlying material. Laser process parameters may be modified based on measured optical properties of a layer measured to provide optimized laser processing.
(FR) L'invention concerne la détection et le traitement suivant la profondeur de couche d'une couche de matériau. Un profil de matériau suivant la profondeur est généré d'après des caractéristiques optiques détectées du matériau de couche et un traitement par laser est commandé d'après une comparaison du profil de matériau suivant la profondeur et de propriétés optiques mesurées d'une couche. Le traitement par laser peut être commandé pour éviter l'endommagement d'un matériau sous-jacent. Des paramètres de traitement de la couche peuvent être modifiés d'après des propriétés optiques mesurées d'une couche mesurée pour assurer un traitement par laser optimisé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)