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1. (WO2019028129) PROCÉDÉ D'ACQUISITION DE SPECTRE EELS À GRANDE VITESSE
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N° de publication : WO/2019/028129 N° de la demande internationale : PCT/US2018/044786
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 01.08.2018
CIB :
H01J 37/26 (2006.01) ,H01J 37/244 (2006.01) ,H01J 37/22 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37
Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
26
Microscopes électroniques ou ioniques; Tubes à diffraction d'électrons ou d'ions
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37
Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
02
Détails
244
Détecteurs; Composants ou circuits associés
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37
Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
02
Détails
22
Dispositifs optiques ou photographiques associés au tube
Déposants :
GATAN, INC. [US/US]; 5794 W. Las Positas Blvd. Pleasanton, California 94588, US
Inventeurs :
JAMES, Edward Michael; US
TWESTEN, Ray Dudley; US
Mandataire :
TINARI, JR., Nicholas M.; US
SNYDER, Glenn; US
Données relatives à la priorité :
62/541,34504.08.2017US
Titre (EN) METHOD FOR HIGH SPEED EELS SPECTRUM ACQUISITION
(FR) PROCÉDÉ D'ACQUISITION DE SPECTRE EELS À GRANDE VITESSE
Abrégé :
(EN) A system and method are disclosed for acquiring Electron Energy Loss Spectrometry (EELS) spectra in a transmission electron microscope. The inventive system and method maximize spectrum acquisition rate and duty cycle by exposing a first portion of an image sensor to a first spectrum while a previously exposed potion of the sensor is read out of the sensor during some or all of the exposure time.
(FR) L'invention concerne un système et un procédé d'acquisition de spectres de spectrométrie de perte d'énergie électronique (EELS) dans un microscope électronique à transmission. Le système et le procédé de l'invention maximisent le taux d'acquisition de spectre et le cycle de service en exposant une première partie d'un capteur d'image à un premier spectre tandis qu'une partie précédemment exposée du capteur est lue par le capteur pendant une partie ou la totalité du temps d'exposition.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)