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1. (WO2019027761) SYSTÈME DE SPECTROMÈTRE À TRANSMISSION DE RAYONS X
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N° de publication : WO/2019/027761 N° de la demande internationale : PCT/US2018/043667
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 25.07.2018
CIB :
G01N 23/083 (2018.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
06
et mesurant l'absorption
08
Utilisation des moyens de détection électriques
083
le rayonnement consistant en rayons X
Déposants :
SIGRAY, INC. [US/US]; 5750 Imhoff Drive Suite I Concord, California 94520, US
Inventeurs :
YUN, Wenbing; US
SESHADRI, Srivatsan; US
KIRZ, Janos; US
LEWIS, Sylvia, Jia, Yun; US
Mandataire :
ALTMAN, Daniel, E.; US
Données relatives à la priorité :
15/663,83131.07.2017US
Titre (EN) X-RAY TRANSMISSION SPECTROMETER SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE SPECTROMÈTRE À TRANSMISSION DE RAYONS X
Abrégé :
(EN) An x-ray transmission spectrometer system to be used with a compact x-ray source to measure x-ray absorption with both high spatial and high spectral resolution. The spectrometer system comprises a compact high brightness x-ray source, an optical system with a low pass spectral filter property to focus the x-rays through an object to be examined, and a spectrometer comprising a crystal analyzer (and, in some embodiments, a mosaic crystal) to disperse the transmitted beam, and in some instances an array detector. The high brightness/high flux x-ray source may have a take-off angle between 0 and 15 degrees, and be coupled to an optical system that collects and focuses the high flux x-rays to micron-scale spots, leading to high flux density. The x-ray optical system may also act as a "low-pass" filter, allowing a predetermined bandwidth of x-rays to be observed at one time while excluding the higher harmonics.
(FR) L’invention concerne un système de spectromètre à transmission de rayons X destiné à être utilisé avec une source de rayons X compacte pour mesurer l’absorption de rayons X avec à la fois une résolution spatiale élevée et une résolution spectrale élevée. Ce système de spectromètre comprend une source de rayons X compacte à haute luminosité, un système optique ayant une propriété de filtre spectral passe-bas pour concentrer les rayons X à travers un objet à examiner, ainsi qu’un spectromètre comprenant un cristal analyseur (et, selon certains modes de réalisation, un cristal mosaïque) pour disperser le faisceau transmis, et dans certains cas un détecteur à réseau. La source de rayons X à haute luminosité/flux élevé peut avoir un angle de prise compris entre 0 et 15 degrés et être couplée à un système optique qui collecte et concentre les rayons X à flux élevé vers des points à l'échelle micronique, de sorte que l’on obtient une densité de flux élevée. Le système optique à rayons X peut également jouer le rôle d'un filtre «passe-bas», de sorte qu’une largeur de bande prédéterminée de rayons X peut être observée en une seule fois tout en excluant les harmoniques supérieures.
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Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)