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1. (WO2019027741) CIRCUIT TAMPON D'ENTRÉE
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N° de publication : WO/2019/027741 N° de la demande internationale : PCT/US2018/043535
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 24.07.2018
CIB :
G11C 11/4093 (2006.01) ,G11C 11/4074 (2006.01)
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
11
Mémoires numériques caractérisées par l'utilisation d'éléments d'emmagasinage électriques ou magnétiques particuliers; Eléments d'emmagasinage correspondants
21
utilisant des éléments électriques
34
utilisant des dispositifs à semi-conducteurs
40
utilisant des transistors
401
formant des cellules nécessitant un rafraîchissement ou une régénération de la charge, c. à d. cellules dynamiques
4063
Circuits auxiliaires, p.ex. pour l'adressage, le décodage, la commande, l'écriture, la lecture ou la synchronisation
407
pour des cellules de mémoire du type à effet de champ
409
Circuits de lecture-écriture (R-W)
4093
Dispositions d'interface d'entrée/sortie (E/S, I/O) de données, p.ex. mémoires tampon de données
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
11
Mémoires numériques caractérisées par l'utilisation d'éléments d'emmagasinage électriques ou magnétiques particuliers; Eléments d'emmagasinage correspondants
21
utilisant des éléments électriques
34
utilisant des dispositifs à semi-conducteurs
40
utilisant des transistors
401
formant des cellules nécessitant un rafraîchissement ou une régénération de la charge, c. à d. cellules dynamiques
4063
Circuits auxiliaires, p.ex. pour l'adressage, le décodage, la commande, l'écriture, la lecture ou la synchronisation
407
pour des cellules de mémoire du type à effet de champ
4074
Circuits d'alimentation ou de génération de tension, p.ex. générateurs de tension de polarisation, générateurs de tension de substrat, alimentation de secours, circuits de commande d'alimentation
Déposants :
MICRON TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 8000 South Federal Way Boise, Idaho 83716-9632, US
Inventeurs :
YAMASHITA, Akira; JP
Mandataire :
MA, Yue Matthew; US
ANDKEN, Kerry Lee; US
ENG, Kimton; US
FAUTH D., Justen; US
ITO, Mika; US
HEGSTROM, Brandon; US
QUECAN, Andrew F.; US
STERN, Ronald; US
MEIKLEJOHN, Paul T.; US
SPAITH, Jennifer; US
ORME, Nathan; US
CORDRAY, Michael S.; US
Données relatives à la priorité :
15/669,39204.08.2017US
Titre (EN) INPUT BUFFER CIRCUIT
(FR) CIRCUIT TAMPON D'ENTRÉE
Abrégé :
(EN) Apparatuses for receiving an input data signal are described. An example apparatus includes: a plurality of data input circuits and an internal data strobe generator. Each data input circuit of the plurality of data input circuits includes: an amplifier that receives data from a data terminal, and latches the data in an enable state and refrains from latching data in a disable state; and a voltage control circuit coupled to a tail node of the amplifier and provides a first voltage to the tail node during the enable state, and further provides a second voltage different from the first voltage to the tail node in a first mode and to sets the tail node in a floating state in a second mode during the disable state. The internal data strobe signal generator provides a plurality of internal data strobe signals to the plurality of corresponding data input circuits respectively.
(FR) L'invention concerne des appareils permettant de recevoir un signal de données d'entrée. Un appareil donné à titre d'exemple comprend : une pluralité de circuits d'entrée de données et un générateur d'échantillonnage de données internes. Chaque circuit d'entrée de données de la pluralité de circuits d'entrée de données comprend : un amplificateur qui reçoit des données en provenance d'un terminal de données, et verrouille les données dans un état d'activation et s’abstient de verrouiller des données dans un état de désactivation ; et un circuit de commande de tension couplé à un noeud de queue de l'amplificateur et fournit une première tension au noeud de queue pendant l'état d'activation, et fournit en outre une seconde tension différente de la première tension au noeud de queue dans un premier mode et règle le noeud de queue dans un état flottant dans un second mode pendant l'état de désactivation. Le générateur de signal d'échantillonnage de données internes fournit une pluralité de signaux d'échantillonnage de données internes à la pluralité de circuits d'entrée de données correspondants respectivement.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)