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1. (WO2019027737) SOUS-ÉCHANTILLONNAGE OPTIMISÉ DANS UN MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE
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N° de publication : WO/2019/027737 N° de la demande internationale : PCT/US2018/043486
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 24.07.2018
CIB :
G01N 23/2251 (2018.01) ,G06T 1/00 (2006.01) ,G06T 7/00 (2006.01)
[IPC code unknown for G01N 23/2251]
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
1
Traitement de données d'image, d'application générale
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7
Analyse d'image, p.ex. à partir d'un mappage binaire pour obtenir un mappage non binaire
Déposants :
BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE [US/US]; 902 Battelle Boulevard Richland, WA 99354, US
Inventeurs :
STEVENS, Andrew, J.; US
KOVARIK, Libor; US
LIYU, Andrey, V.; US
BROWNING, Nigel, D.; US
Mandataire :
MCGRATH, Ethan, A.; US
Données relatives à la priorité :
15/666,15901.08.2017US
Titre (EN) OPTIMIZED SUB-SAMPLING IN AN ELECTRON MICROSCOPE
(FR) SOUS-ÉCHANTILLONNAGE OPTIMISÉ DANS UN MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE
Abrégé :
(EN) Disclosed are methods for optimized sub-sampling in an electron microscope. With regard at least to utilization of electron dose budgets, of time for acquisition of measurements, and of computing/processing capabilities, very high efficiencies can be achieved by informing and/or adapting subsequent sub-sampling measurements according to one or more earlier-acquired sparse datasets and/or according to analyses thereof.
(FR) L'invention concerne des procédés de sous-échantillonnage optimisé dans un microscope électronique. En ce qui concerne au moins l'utilisation de prévisions de dose d'électrons, de temps d'acquisition de mesures, et de capacités de calcul/traitement, des rendements très élevés peuvent être obtenus en informant et/ou en adaptant des mesures de sous-échantillonnage ultérieures selon un ou plusieurs ensembles de données épars acquis précédemment et/ou selon des analyses de ceux-ci.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)