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1. (WO2019027522) SYSTÈME D'ANALYSE D'IMPACT ET DE RÉSISTANCE À LA PERFORATION
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N° de publication : WO/2019/027522 N° de la demande internationale : PCT/US2018/030298
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 30.04.2018
CIB :
G01N 3/42 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
3
Recherche des propriétés mécaniques des matériaux solides par application d'une contrainte mécanique
40
Recherche de la dureté ou de la dureté au rebondissement
42
en effectuant des empreintes sous une charge permanente par des dispositifs de pénétration, p.ex. sphère, pyramide
Déposants :
DOW GLOBAL TECHNOLOGIES LLC [US/US]; 2040 Dow Center Midland, Michigan 48674, US
ROHM AND HAAS COMPANY [US/US]; 400 Arcola Road Collegeville, Pennsylvania 19426, US
Inventeurs :
MCCARTY II, Donald L.; US
SUTANTO, Erick; US
LUND, John; US
GLAD, Brayden E.; US
SINGH, Hitendra; US
Mandataire :
SCHWARZ, Steven J.; US
Données relatives à la priorité :
62/539,38131.07.2017US
Titre (EN) SYSTEM FOR ANALYZING IMPACT AND PUNCTURE RESISTANCE
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE D'IMPACT ET DE RÉSISTANCE À LA PERFORATION
Abrégé :
(EN) A method and a system for analyzing a physical characteristic of a film sample are described herein. The system includes a material holder system configured to hold the film sample; a dart testing system configured to test a physical characteristic of the film sample; and a moving system configured to move the held film sample to be analyzed or tested between stations. The moving system is configured to move the held film sample in the material holder system to the dart testing system.
(FR) L'invention concerne un procédé et un système d'analyse d'une caractéristique physique d'un échantillon de film. Le système comprend un système de maintien de matériau conçu pour maintenir l'échantillon de film ; un système de test de fléchettes conçu pour tester une caractéristique physique de l'échantillon de film ; et un système de déplacement conçu pour déplacer l'échantillon de film maintenu à analyser ou à tester entre des stations. Le système de déplacement est conçu pour déplacer l'échantillon de film maintenu dans le système de maintien de matériau vers le système de test de fléchettes.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)