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1. (WO2019027521) DISPOSITIF D'ANALYSE D'IMPACT ET DE RÉSISTANCE À LA PERFORATION
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N° de publication : WO/2019/027521 N° de la demande internationale : PCT/US2018/030277
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 30.04.2018
CIB :
G01N 3/42 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
3
Recherche des propriétés mécaniques des matériaux solides par application d'une contrainte mécanique
40
Recherche de la dureté ou de la dureté au rebondissement
42
en effectuant des empreintes sous une charge permanente par des dispositifs de pénétration, p.ex. sphère, pyramide
Déposants :
DOW GLOBAL TECHNOLOGIES LLC [US/US]; 2040 Dow Center Midland, Michigan 48674, US
ROHM AND HAAS COMPANY [US/US]; 400 Arcola Road Collegeville, Pennsylvania 19426, US
Inventeurs :
MCCARTY, Donald, L.; US
SUTANTO, Erick; US
DOTSON, Larry; US
GLAD, Brayden, E.; US
SINGH, Hitendra; US
LUND, John; US
Mandataire :
SCHWARZ, Steven, J.; US
Données relatives à la priorité :
62/539,32631.07.2017US
Titre (EN) DEVICE FOR ANALYZING IMPACT AND PUNCTURE RESISTANCE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE D'IMPACT ET DE RÉSISTANCE À LA PERFORATION
Abrégé :
(EN) A device for analyzing a physical characteristic of a film sample is described herein. The device includes a clamping system configured to hold the film sample. The device further includes a dart probe system configured to test a physical characteristic of the film sample. The dart probe system has a dart probe, a propulsion system configured to move the dart probe relative to the clamping system, and a force sensor configured to measure a force that the dart probe is subjected to during a movement of the dart probe. The force sensor is configured to measure a force imparted to the film sample when the dart probe comes in contact with the film sample.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'analyse d'une caractéristique physique d'un échantillon de film. Le dispositif comprend un système de serrage conçu pour maintenir l'échantillon de film. Le dispositif comprend en outre un système de sonde de fléchettes conçu pour tester une caractéristique physique de l'échantillon de film. Le système de sonde de fléchette comprend une sonde de fléchette, un système de propulsion conçu pour déplacer la sonde de fléchette par rapport au système de serrage et un capteur de force conçu pour mesurer une force à laquelle la sonde de fléchette est soumise pendant un mouvement de la sonde de fléchette. Le capteur de force est conçu pour mesurer une force appliquée à l'échantillon de film lorsque la sonde de fléchette vient en contact avec l'échantillon de film.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)