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1. (WO2019027518) SYSTÈME D'ANALYSE DE DÉCHIRURE DE FILMS
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N° de publication : WO/2019/027518 N° de la demande internationale : PCT/US2018/030210
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 30.04.2018
CIB :
G01N 3/08 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
3
Recherche des propriétés mécaniques des matériaux solides par application d'une contrainte mécanique
08
par application d'efforts permanents de traction ou de compression
Déposants :
DOW GLOBAL TECHNOLOGIES LLC [US/US]; 2040 Dow Center Midland, MI 48674, US
Inventeurs :
SOLANKI, Sanjay, C.; US
MCCARTY, Donald, L.; US
GUNTHER, Robert, A.; US
WANG, Jin; US
MYERS, Kyle, A.; US
COLLICK, Scott, J.; US
Mandataire :
SCHWARZ, Steven, J.; US
Données relatives à la priorité :
62/539,39931.07.2017US
Titre (EN) SYSTEM FOR TEAR ANALYSIS OF FILMS
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE DE DÉCHIRURE DE FILMS
Abrégé :
(EN) A method and a system for analyzing a physical characteristic of a film sample are described herein. The system includes a material holder system configured to hold the film sample; and a tear analysis device configured to tear the film sample and measure a characteristic of the tear. The movable system is configured to move the film sample in the material holder system to the tear analysis device.
(FR) L'invention concerne un procédé et un système d'analyse d'une caractéristique physique d'un échantillon de film. Le système comprend un système de support de matériau conçu pour supporter l'échantillon de film et un dispositif d'analyse de déchirure conçu pour déchirer l'échantillon de film et mesurer une caractéristique de la déchirure. Le système mobile est conçu pour déplacer l'échantillon de film dans le système de support de matériau vers le dispositif d'analyse de déchirure.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)