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1. (WO2019026416) DISPOSITIF DE MESURE DE FORME DE MONTURE DE LUNETTES ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE VERRE
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N° de publication : WO/2019/026416 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/021700
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 06.06.2018
CIB :
G01B 11/24 (2006.01) ,B24B 9/14 (2006.01) ,G02C 13/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
24
MEULAGE; POLISSAGE
B
MACHINES, DISPOSITIFS OU PROCÉDÉS POUR MEULER OU POUR POLIR; DRESSAGE OU REMISE EN ÉTAT DES SURFACES ABRASIVES; ALIMENTATION DES MACHINES EN MATÉRIAUX DE MEULAGE, DE POLISSAGE OU DE RODAGE
9
Machines ou dispositifs pour meuler les bords ou les biseaux des pièces ou pour enlever des bavures; Accessoires à cet effet
02
caractérisés par le fait qu'ils sont spécialement étudiés en fonction des propriétés de la matière propre aux objets à meuler
06
de matière inorganique non métallique, p.ex. de la pierre, des céramiques, de la porcelaine
08
du verre
14
de pièces optiques, p.ex. de lentilles, de prismes
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
C
LUNETTES; LUNETTES DE SOLEIL OU LUNETTES PROTECTRICES DANS LA MESURE OÙ LEURS CARACTÉRISTIQUES SONT LES MÊMES QUE CELLES DES LUNETTES; LENTILLES DE CONTACT
13
Assemblage; Réparation; Nettoyage
Déposants :
株式会社ニデック NIDEK.CO.,LTD [JP/JP]; 愛知県蒲郡市拾石町前浜34番地14 34-14 Maehama,Hiroishi-cho,Gamagori-shi Aichi 4430038, JP
Inventeurs :
滝井 通浩 TAKII, Michihiro; JP
水越 邦仁 MIZUKOSHI, Kunihito; JP
石井 友也 ISHII, Tomoya; JP
武市 教児 TAKEICHI, Kyoji; JP
Données relatives à la priorité :
2017-14836631.07.2017JP
Titre (EN) EYEGLASS FRAME SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND LENS PROCESSING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE FORME DE MONTURE DE LUNETTES ET DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE VERRE
(JA) 眼鏡枠形状測定装置、及びレンズ加工装置
Abrégé :
(EN) An eyeglass frame shape measurement device for measuring the shape of an eyeglass frame, said device comprising: a light projection optical system that has a light source and is for irradiating measurement light from the light source toward a groove in the rims of the eyeglass frame, a light reception optical system that has a detector and is for using the detector to receive light that has been irradiated toward the groove in the rims of the eyeglass frame by the light projection optical system and reflected by the groove in the rims of the eyeglass frame, an acquisition means for acquiring a cross-sectional shape of the groove in the rims of the eyeglass frame on the basis of the reflected light received by the detector, and a brightness control means for controlling the brightness level of the reflected light received by the detector.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure de forme de monture de lunettes destiné à mesurer la forme d'une monture de lunettes, ledit dispositif comprenant : un système optique de projection de lumière qui comporte une source de lumière et qui est destiné à émettre la lumière de mesure depuis la source de lumière vers une rainure dans les bords de la monture de lunettes, un système optique de réception de lumière qui comporte un détecteur et qui est destiné à utiliser le détecteur pour recevoir la lumière qui a été émise vers la rainure dans les bords de la monture de lunettes par le système optique de projection de lumière et réfléchie par la rainure dans les bords de la monture de lunettes, des moyens d'acquisition destinés à acquérir une forme de section transversale de la rainure dans les bords de la monture de lunettes en se basant sur la lumière réfléchie reçue par le détecteur, et des moyens de commande de luminosité destinés à commander le niveau de luminosité de la lumière réfléchie reçue par le détecteur.
(JA) 眼鏡フレームの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置であって、光源を有し、眼鏡フレームのリムの溝に向けて光源から測定光を照射する投光光学系と、検出器を有し、投光光学系によって眼鏡フレームのリムの溝に向けて照射され、眼鏡フレームのリムの溝によって反射された測定光の反射光を検出器によって受光する受光光学系と、検出器によって受光された反射光に基づいて、眼鏡フレームのリムの溝の断面形状を取得する取得手段と、検出器によって受光される反射光の輝度レベルを制御する輝度制御手段と、を備える。 
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)