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1. (WO2019026413) SYSTÈME D'ANALYSE DE MICROPARTICULES DANS UN LIQUIDE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE MICROPARTICULES DANS UN LIQUIDE
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N° de publication : WO/2019/026413 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/021519
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 05.06.2018
CIB :
G01N 15/14 (2006.01) ,G01N 21/05 (2006.01) ,G01N 21/64 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15
Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
10
Recherche de particules individuelles
14
Recherche par des moyens électro-optiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01
Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
03
Détails de structure des cuvettes
05
Cuvettes à circulation de fluides
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63
excité optiquement
64
Fluorescence; Phosphorescence
Déposants :
シャープ株式会社 SHARP KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 大阪府堺市堺区匠町1番地 1, Takumi-cho, Sakai-ku, Sakai City, Osaka 5908522, JP
国立大学法人東京大学 THE UNIVERSITY OF TOKYO [JP/JP]; 東京都文京区本郷七丁目3番1号 3-1, Hongo 7-chome, Bunkyo-ku, Tokyo 1138654, JP
Inventeurs :
飯塚 邦彦 IIZUKA, Kunihiko; --
藤本 義久 FUJIMOTO, Yoshihisa; --
満仲 健 MITSUNAKA, Takeshi; --
藤井 輝夫 FUJII, Teruo; JP
金 秀▲弦▼ KIM, Soo-Hyeon; JP
Mandataire :
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; 大阪府大阪市北区天神橋2丁目北2番6号 大和南森町ビル Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300041, JP
Données relatives à la priorité :
2017-14901801.08.2017JP
Titre (EN) IN-LIQUID MICROPARTICLE ANALYSIS SYSTEM AND IN-LIQUID MICROPARTICLE ANALYSIS METHOD
(FR) SYSTÈME D'ANALYSE DE MICROPARTICULES DANS UN LIQUIDE ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE MICROPARTICULES DANS UN LIQUIDE
(JA) 液体中微粒子分析システムおよび液体中微粒子分析方法
Abrégé :
(EN) The present invention achieves a reduction in the size of an optical system for sensing fluorescence photons. A photon-sensing operation performed by a photon sensing unit (21) is controlled with reference to the timing of an irradiation operation performed by an excitation light source (50), and after excitation light irradiated in a micro flow path (10) is extinguished, photons of fluorescence produced from a subject flowing through the micro flow path (10) are sensed.
(FR) La présente invention permet de réduire la taille d'un système optique de détection de photons de fluorescence. Une opération de détection de photons effectuée par une unité de détection de photons (21) est commandée en référence à la synchronisation d'une opération d'irradiation effectuée par une source de lumière d'excitation (50), et après que la lumière d'excitation irradiée dans un micro-trajet d'écoulement (10) est éteinte, des photons de fluorescence produits par un sujet s'écoulant à travers le micro-trajet d'écoulement (10) sont détectés.
(JA) 蛍光光子を検知する光学系システムの小型化を図る。励起光源(50)の照射動作のタイミングを基準として、光子検知部(21)の光子検知動作を制御し、マイクロ流路(10)に照射された励起光の消光後に、マイクロ流路(10)中を流れている対象物から生じる蛍光の光子を検知する。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)