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1. (WO2019026406) DISPOSITIF, PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'ÉTAT D'ÉCHANTILLON ET SYSTÈME D'ANALYSE
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N° de publication : WO/2019/026406 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/020952
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 31.05.2018
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 30.11.2018
CIB :
G01N 35/10 (2006.01) ,C12M 1/34 (2006.01) ,G01N 21/17 (2006.01) ,G01N 35/00 (2006.01) ,G06T 7/00 (2017.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35
Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
10
Dispositifs pour transférer les échantillons vers, dans ou à partir de l'appareil d'analyse, p.ex. dispositifs d'aspiration, dispositifs d'injection
C CHIMIE; MÉTALLURGIE
12
BIOCHIMIE; BIÈRE; SPIRITUEUX; VIN; VINAIGRE; MICROBIOLOGIE; ENZYMOLOGIE; TECHNIQUES DE MUTATION OU DE GÉNÉTIQUE
M
APPAREILLAGE POUR L'ENZYMOLOGIE OU LA MICROBIOLOGIE
1
Appareillage pour l'enzymologie ou la microbiologie
34
Mesure ou essai par des moyens de mesure ou de détection des conditions du milieu, p.ex. par des compteurs de colonies
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35
Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7
Analyse d'image, p.ex. à partir d'un mappage binaire pour obtenir un mappage non binaire
Déposants :
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Inventeurs :
柿下 容弓 KAKISHITA, Yasuki; JP
服部 英春 HATTORI, Hideharu; JP
坂詰 卓 SAKAZUME, Taku; JP
鈴木 洋一郎 SUZUKI, Yohichiroh; JP
Mandataire :
特許業務法人藤央特許事務所 TOU-OU PATENT FIRM; 東京都港区虎ノ門一丁目16番4号アーバン虎ノ門ビル Urban Toranomon Bldg., 16-4, Toranomon 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050001, JP
Données relatives à la priorité :
2017-14762931.07.2017JP
Titre (EN) DEVICE, SPECIMEN STATE DETERMINATION METHOD, AND ANALYSIS SYSTEM
(FR) DISPOSITIF, PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'ÉTAT D'ÉCHANTILLON ET SYSTÈME D'ANALYSE
(JA) 装置、試料の状態の判別方法、及び分析システム
Abrégé :
(EN) Provided is a device determining a state of a specimen to be analyzed that is contained in a container, wherein the device acquires an image of the specimen, analyzes the position and size of a detection target object with respect to a detection range set in the image by using the image of the specimen, and determines the state of the specimen on the basis of the analyzed result.
(FR) La présente invention concerne un dispositif déterminant un état d'un échantillon à analyser qui est contenu dans un récipient, le dispositif acquérant une image de l'échantillon, analysant la position et la taille d'un objet cible de détection par rapport à une plage de détection définie dans l'image au moyen de l'image de l'échantillon, et déterminant l'état de l'échantillon sur la base du résultat analysé.
(JA) 容器に収められた分析対象の試料の状態を判別する装置であって、装置は、試料の画像を取得し、試料の画像を用いて、画像に設定される検出範囲に対する検出対象物の位置及び大きさを解析し、解析の結果に基づいて試料の状態を判別する。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)