Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2019026114) DISPOSITIF DE MESURE DE STRUCTURE, DISPOSITIF DE CORRECTION DE POINT DE MESURE, ET PROCÉDÉ DE CORRECTION DE POINT DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2019/026114 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/027657
Date de publication : 07.02.2019 Date de dépôt international : 31.07.2017
CIB :
G01C 7/04 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
C
MESURE DES DISTANCES, DES NIVEAUX OU DES RELÈVEMENTS; GÉODÉSIE; NAVIGATION; INSTRUMENTS GYROSCOPIQUES; PHOTOGRAMMÉTRIE OU VIDÉOGRAMMÉTRIE
7
Tracé de profils
02
des surfaces du terrain
04
mettant en jeu un véhicule qui se déplace le long du profil à tracer
Déposants :
三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310, JP
Inventeurs :
亀井 克之 KAMEI Katsuyuki; JP
渡辺 昌志 WATANABE Masashi; JP
藤林 宏行 FUJIBAYASHI Hiroyuki; JP
入江 恵 IRIE Megumi; JP
Mandataire :
吉竹 英俊 YOSHITAKE Hidetoshi; JP
有田 貴弘 ARITA Takahiro; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) STRUCTURE MEASUREMENT DEVICE, MEASUREMENT POINT CORRECTION DEVICE, AND MEASUREMENT POINT CORRECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE STRUCTURE, DISPOSITIF DE CORRECTION DE POINT DE MESURE, ET PROCÉDÉ DE CORRECTION DE POINT DE MESURE
(JA) 構造物計測装置、計測点補正装置、および計測点補正方法
Abrégé :
(EN) According to the present invention, a first measurement surface (26) and a second measurement surface (28) which move with a measuring vehicle (1) are respectively scanned and first measurement coordinate points and second measurement coordinate points are calculated. A first comparison point group and a second comparison point group, which represent comparison portions on the surface of a structure, are respectively extracted from the first measurement coordinate points and the second measurement coordinate points. A difference is calculated between the first comparison point group and the second comparison point group that correspond to measurements of common comparison portions on the surface of the structure. Time-dependent errors included in the first measurement coordinate points and the plurality of second measurement coordinate points are calculated on the basis of the calculated difference. The measurement coordinate points are corrected on the basis of the calculated errors.
(FR) Selon la présente invention, une première surface de mesure (26) et une seconde surface de mesure (28) qui se déplacent avec un véhicule de mesure (1) sont respectivement balayées et des premiers points de coordonnées de mesure et des seconds points de coordonnées de mesure sont calculés. Un premier groupe de points de comparaison et un second groupe de points de comparaison, qui représentent des parties de comparaison sur la surface d'une structure, sont respectivement extraits des premiers points de coordonnées de mesure et des seconds points de coordonnées de mesure. Une différence est calculée entre le premier groupe de points de comparaison et le second groupe de points de comparaison qui correspondent à des mesures de parties de comparaison communes sur la surface de la structure. Des erreurs dépendantes du temps comprises dans les premiers points de coordonnées de mesure et la pluralité de seconds points de coordonnées de mesure sont calculées sur la base de la différence calculée. Les points de coordonnées de mesure sont corrigés sur la base des erreurs calculées.
(JA) 計測車両(1)と共に移動する第1の計測面(26)および第2の計測面(28)内のそれぞれが走査され、第1の計測座標点および第2の計測座標点が算出される。第1の計測座標点および第2の計測座標点のそれぞれから、構造物の表面のうち比較部分を表す第1の比較点群および第2の比較点群が抽出される。構造物の表面上の共通の比較部分の計測に対応する第1の比較点群と第2の比較点群との間の差異が算出される。算出された差異に基づいて、第1の計測座標点および複数の第2の計測座標点に含まれる時間依存性の誤差が算出される。算出された誤差に基づいて計測座標点が補正される。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)