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1. (WO2019009465) DISPOSITIF D'INSPECTION VISUELLE DE RESSORT ET PROCÉDÉ D'INSPECTION VISUELLE DE RESSORT
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N° de publication : WO/2019/009465 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/010284
Date de publication : 10.01.2019 Date de dépôt international : 20.09.2017
CIB :
G01B 11/02 (2006.01) ,G01B 11/04 (2006.01) ,G01B 11/14 (2006.01) ,G01M 11/08 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
04
spécialement adaptés pour mesurer la longueur ou la largeur d'objets en mouvement
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
14
pour mesurer la distance ou la marge entre des objets ou des ouvertures espacés
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11
Essai des appareils d'optique; Essai des structures ou ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
08
Essai des propriétés mécaniques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
Déposants :
문종판 MOON, Jong Pan [KR/KR]; KR
Inventeurs :
문종판 MOON, Jong Pan; KR
Mandataire :
문찬두 MOON, Chan Doo; KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-008636207.07.2017KR
Titre (EN) VISUAL SPRING INSPECTION DEVICE AND VISUAL SPRING INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION VISUELLE DE RESSORT ET PROCÉDÉ D'INSPECTION VISUELLE DE RESSORT
(KO) 스프링 비전 검사장치 및 검사방법
Abrégé :
(EN) The present invention relates to a visual spring inspection device and a visual spring inspection method, and, more specifically, to a visual spring inspection device and a visual spring inspection method by which a complete inspection of an outer diameter, an inner diameter, a length, an R value, and an angle, which could not be inspected during existing complete inspections of springs, can be carried out.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'inspection visuelle de ressort et un procédé d'inspection visuelle de ressort et, plus précisément, un dispositif d'inspection visuelle de ressort et un procédé d'inspection visuelle de ressort qui permettent de réaliser une inspection complète d'un diamètre externe, d'un diamètre interne, d'une longueur, d'une valeur R et d'un angle, qui ne pouvaient pas être inspectés pendant les inspections complètes existantes de ressorts.
(KO) 본 발명은 스프링 비전 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 기존의 스프링을 전수검사 할 시, 불가능 했던 스프링의 외경, 내경, 길이, R값, 각도 등의 전수 검사를 실시할 수 있는 스프링 비전 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)