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1. (WO2019008964) INTERFÉROMÈTRE, DISPOSITIF SPECTROSCOPIQUE À TRANSFORMÉE DE FOURIER ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE COMPOSANT
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N° de publication : WO/2019/008964 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/021192
Date de publication : 10.01.2019 Date de dépôt international : 01.06.2018
CIB :
G01J 3/45 (2006.01) ,G01N 21/35 (2014.01) ,G01B 9/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
28
Etude du spectre
45
Spectrométrie par interférence
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31
en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
35
en utilisant la lumière infrarouge
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
9
Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure optiques
02
Interféromètres
Déposants :
国立研究開発法人産業技術総合研究所 NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 東京都千代田区霞が関1丁目3番1号 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921, JP
Inventeurs :
古川 祐光 FURUKAWA, Hiromitsu; JP
Mandataire :
稲葉 良幸 INABA, Yoshiyuki; JP
大貫 敏史 ONUKI, Toshifumi; JP
Données relatives à la priorité :
2017-13041003.07.2017JP
Titre (EN) INTERFEROMETER, FOURIER TRANSFORM SPECTROSCOPIC DEVICE, AND COMPONENT ANALYZING DEVICE
(FR) INTERFÉROMÈTRE, DISPOSITIF SPECTROSCOPIQUE À TRANSFORMÉE DE FOURIER ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE COMPOSANT
(JA) 干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置
Abrégé :
(EN) Provided are an interferometer, a Fourier transform spectroscopic device and a component analyzing device which are highly resistant to vibration, are inexpensive and compact, and have a high resolution. An interferometer 10 is provided with: a first polarizing element 13 which allows certain polarized light among incident light to pass; a birefringent crystal 14 which is arranged downstream of the first polarizing element 13 and is arranged rotatably about an axis of rotation in the incident direction of light emitted from the first polarizing element 13; a second polarizing element 15 which is arranged downstream of the birefringent crystal 14 and which allows certain polarized light among the light emitted from the birefringent crystal 14 to pass; and a light receiving element 17 which is arranged downstream of the second polarizing element 15 and which converts the light emitted from the second polarizing element 15 into an electrical signal; wherein the first polarizing element 13, the birefringent crystal 14, the second polarizing element 15 and the light receiving element 17 are arranged in a straight line.
(FR) L'invention concerne un interféromètre, un dispositif spectroscopique à transformée de Fourier et un dispositif d'analyse de composant qui sont hautement résistants aux vibrations, qui sont peu coûteux et compacts, et qui ont une résolution élevée. Un interféromètre (10) est pourvu : d'un premier élément de polarisation (13), qui permet à une certaine lumière polarisée au sein d'une lumière incidente de passer ; un cristal biréfringent (14), qui est disposé en aval du premier élément de polarisation (13) et qui est agencé de façon à pouvoir tourner autour d'un axe de rotation dans le sens d'incidence de la lumière émise par le premier élément de polarisation (13) ; un second élément polarisant (15), qui est disposé en aval du cristal biréfringent (14) et qui permet à une certaine lumière polarisée au sein de la lumière émise par le cristal biréfringent (14) de passer ; et un élément de réception de lumière (17), qui est disposé en aval du second élément de polarisation (15) et qui convertit la lumière émise par le second élément de polarisation (15) en un signal électrique ; le premier élément de polarisation (13), le cristal biréfringent (14), le second élément de polarisation (15) et l'élément de réception de lumière (17) étant disposés en ligne droite.
(JA) 耐振性が高く、安価で小型であり、分解能が高い干渉計、フーリエ変換分光装置及び成分分析装置を提供する。干渉計10は、入射された光のうち所定の偏光を通過させる第1偏光素子13と、第1偏光素子13の後段に配置され、第1偏光素子13から出射された光の入射方向を回転軸として回転可能に配置された複屈折結晶14と、複屈折結晶14の後段に配置され、複屈折結晶14から出射された光のうち所定の偏光を通過させる第2偏光素子15と、第2偏光素子15の後段に配置され、第2偏光素子15から出射された光を電気信号に変換する受光素子17と、を備え、第1偏光素子13、複屈折結晶14、第2偏光素子15及び受光素子17は、直線的に配置される。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)