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1. (WO2019008738) SOURCE D'ÉLECTRONS DU TYPE À ÉMISSION DE CHAMP ET DISPOSITIF À FAISCEAU DE PARTICULES CHARGÉES
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N° de publication : WO/2019/008738 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/024942
Date de publication : 10.01.2019 Date de dépôt international : 07.07.2017
CIB :
H01J 37/073 (2006.01) ,H01J 1/304 (2006.01) ,H01J 1/46 (2006.01) ,H01J 9/02 (2006.01) ,H01J 37/06 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37
Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
02
Détails
04
Dispositions des électrodes et organes associés en vue de produire ou de commander la décharge, p.ex. dispositif électronoptique, dispositif ionoptique
06
Sources d'électrons; Canons à électrons
073
Canons à électrons utilisant des sources d'électrons à émission par effet de champ, à photo-émission ou à émission secondaire
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
1
Détails des électrodes, des moyens de commande magnétiques, des écrans, ou du montage ou de l'espacement de ces éléments, communs au moins à deux types de base de tubes ou lampes à décharge
02
Electrodes principales
30
Cathodes froides
304
Cathodes à émission d'électrons de champ
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
1
Détails des électrodes, des moyens de commande magnétiques, des écrans, ou du montage ou de l'espacement de ces éléments, communs au moins à deux types de base de tubes ou lampes à décharge
46
Electrodes de commande, p.ex. grille; Electrodes auxiliaires
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
9
Appareils ou procédés spécialement adaptés à la fabrication de tubes à décharge électrique, de lampes à décharge électrique ou de leurs composants; Récupération de matériaux à partir de tubes ou de lampes à décharge
02
Fabrication des électrodes ou des systèmes d'électrodes
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
37
Tubes à décharge pourvus de moyens permettant l'introduction d'objets ou d'un matériau à exposer à la décharge, p.ex. pour y subir un examen ou un traitement
02
Détails
04
Dispositions des électrodes et organes associés en vue de produire ou de commander la décharge, p.ex. dispositif électronoptique, dispositif ionoptique
06
Sources d'électrons; Canons à électrons
Déposants :
株式会社日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Inventeurs :
武居 亜紀 TAKEI Aki; JP
片桐 創一 KATAGIRI Souichi; JP
松永 宗一郎 MATSUNAGA Soichiro; JP
川野 源 KAWANO Hajime; JP
土肥 隆 DOI Takashi; JP
Mandataire :
ポレール特許業務法人 POLAIRE I.P.C.; 東京都中央区日本橋茅場町二丁目13番11号 13-11, Nihonbashikayabacho 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1030025, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) FIELD EMISSION-TYPE ELECTRON SOURCE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
(FR) SOURCE D'ÉLECTRONS DU TYPE À ÉMISSION DE CHAMP ET DISPOSITIF À FAISCEAU DE PARTICULES CHARGÉES
(JA) 電界放出型電子源および荷電粒子線装置
Abrégé :
(EN) Provided are: a field emission-type electron source with which the influence of an electric field can be suppressed and stable long-term emission characteristics can be obtained even when a diffusion supply source is disposed close to the tip of a needle-like electrode; and a charged particle beam device using the same. According to the present invention, a suppressor electrode 4 is disposed to cover a filament 3 and the needle-like electrode 1 excluding a portion, of the needle-like electrode 1, protruding from an opening part 5 of the suppressor electrode 4, and a diffusion supply source 9 for supplying zirconia that is diffused onto the surface of the needle-like electrode 1 is formed around the needle-like electrode 1, wherein the diffusion supply source 9 has a thickness of 10 μm or more in at least the portion covered by the suppressor electrode 4, and has a thickness of 100 nm or more in the portion protruding from the opening part 5.
(FR) L'invention concerne : une source d'électrons du type à émission de champ avec laquelle l'influence d'un champ électrique peut être supprimée et des caractéristiques d'émission à long terme stables peuvent être obtenues même lorsqu'une source d'alimentation en diffusion est disposée à proximité de la pointe d'une électrode du type aiguille ; et un dispositif à faisceau de particules chargées l'utilisant. Selon la présente invention, une électrode de suppression (4) est disposée pour recouvrir un filament (3) et l'électrode du type aiguille (1) à l'exclusion d'une partie, de l'électrode du type aiguille (1), faisant saillie à partir d'une partie d'ouverture (5) de l'électrode de suppression (4), et une source d'alimentation en diffusion (9) permettant de fournir de la zircone qui est diffusée sur la surface de l'électrode du type aiguille (1) est formée autour de l'électrode du type aiguille (1), la source d'alimentation en diffusion (9) présentant une épaisseur de 10 µm ou plus dans au moins la partie recouverte par l'électrode de suppression (4) et présente une épaisseur de 100 nm ou plus dans la partie faisant saillie à partir de la partie d'ouverture (5).
(JA) 拡散供給源を針状電極の先端により近くに配置しても電場の影響の影響を抑え、安定した長期エミッション特性が得られる電界放出型電子源およびそれを用いた荷電粒子線装置を提供する。サプレッサ電極4の開口部5より突き出した針状電極1の部分を除いて、フィラメント3及び針状電極1を覆うようにサプレッサ電極4が配置され、針状電極1の周りには、その表面に拡散されるジルコニアを供給する拡散供給源9が形成されており、拡散供給源9は、少なくともサプレッサ電極4に覆われた部分においては10μm以上の厚さを有し、開口部5より突き出した部分においては100nm以上の厚さを有する。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)