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1. (WO2019005621) SYSTÈME D'IDENTIFICATION DE COMPOSANT À AUTO-CONFIGURATION ET DE TRAITEMENT DE SIGNAL POUR UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES
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N° de publication : WO/2019/005621 N° de la demande internationale : PCT/US2018/039077
Date de publication : 03.01.2019 Date de dépôt international : 22.06.2018
CIB :
G01B 5/004 (2006.01) ,G01B 21/04 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
04
spécialement adaptés pour mesurer la longueur ou la largeur d'objets en mouvement
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
04
en mesurant les coordonnées de points
Déposants :
MITUTOYO CORPORATION [JP/JP]; 20-1, Sakado 1-Chome, Takatsu-Ku Kawasaki-shi, Kanagawa-ken 213-8533, JP
Inventeurs :
HEMMINGS, Scott, Ellis; US
Mandataire :
LEEK, Shoko, I.; US
OBEIDAT, Baha, A.; US
KUMABE, Blake, K.; US
SOLTANI, Bobby, B.; US
ZENTZ, Bradley, J.; US
SARGEANT, Brooke; US
QUIST, Brooke, W.; US
O'BRIEN, Daniel; US
ROTH, Carol, J.; US
EIDT, Chandra, E.; US
STARK, Duncan; US
CARLSON, David, V.; US
TARLETON, E., Russell; US
SUN, Eileen, S.; US
HARWOOD, Eric, A.; US
ABRAMONTE, Frank; US
GERTZ, Glenda, A.; US
HAN, Hai; US
TALBERT, Hayley, J.; US
WHITE, James, A. D.; US
BARRETT, Jared, M.; US
PEPE, Jeffrey, C.; US
DANLEY, Jeffrey, E.; US
SAKOI, Jeffrey, M.; US
BAUNACH, Jeremiah, J.; US
KARLEN, John, R.; US
MORGAN, John, A.; US
WAKELEY, John, J.; US
COE, Justin, E.; US
HENCKEL, Karen, M.; US
HEFTER, Karl, A.; US
HERMANNS, Karl, R.; US
MORGAN, Kevan, L.; US
COSTANZA, Kevin, S.; US
LINFORD, Lorraine; US
COOPER, Michael, P.; US
RUSYN, Paul; US
LIN, Qing; US
HALLER, Rachel, A.; US
IANNUCCI, Robert; US
KOVELMAN, Robert, L.; US
WEBB, Samuel, E.; US
ROSENMAN, Stephen, J.; US
ABEDI, Syed; US
SHEWMAKE, Thomas, A.; US
SATAGAJ, Thomas, J.; US
BOLLER, Timothy, L.; US
LIGON, Toby, J.; US
CANTRELL, Tyler, C.; US
FERRON, William, O., Jr.; US
Données relatives à la priorité :
62/527,76330.06.2017US
Titre (EN) SELF-CONFIGURING COMPONENT IDENTIFICATION AND SIGNAL PROCESSING SYSTEM FOR A COORDINATE MEASUREMENT MACHINE
(FR) SYSTÈME D'IDENTIFICATION DE COMPOSANT À AUTO-CONFIGURATION ET DE TRAITEMENT DE SIGNAL POUR UNE MACHINE DE MESURE DE COORDONNÉES
Abrégé :
(EN) A set of respective self-configuring probe interface circuit boards (SC-MPIC's) are disclosed for use with a measurement system comprising host electronics and respective interchangeable measurement probes. Member SC-MPICs each comprises: a local circuit (LS) for probe identification, signal processing and inter-board signal control; and higher-direction and lower-direction connectors "pointing" toward and away from the measurement probe, respectively. Member SC-MPICs establish a processing hierarchy by generating lower board present signals on their higher-direction connector, higher board present signals on their lower-direction connector, and determining whether they are the highest and/or lowest SC-MPIC based on receiving those signals from adjacent SC-MPICs. They can independently perform probe identification matching operations using probe identification data from compatible and incompatible probes, and the highest SC-MPIC does this first. Member SC-MPICs advantageously pass through or isolate signals from other members in the set depending on the hierarchy, various received signals, and internal processing.
(FR) L'invention concerne un ensemble de cartes de circuit d'interface de sonde à auto-configuration respectives (SC-MPIC) destinées à être utilisées avec un système de mesure comprenant une électronique hôte et des sondes de mesure interchangeables respectives. Les éléments SC-MPIC comprennent chacun : un circuit local (LS) pour l'identification de sonde,un circuit de traitement de signal et de commande de signal inter-carte ; et des connecteurs de direction supérieure et de direction inférieure "pointant" respectivement vers la sonde de mesure et à l'opposé de celle-ci. Des éléments SC-MPIC établissent une hiérarchie de traitement en générant des signaux de présence de carte inférieure sur leur connecteur de direction supérieure, de signaux de présence de carte supérieure sur leur connecteur de direction inférieure, et en déterminant s'ils sont le SC-MPIC le plus haut et/ou le plus bas sur la base de la réception de ces signaux provenant de SC-MPIC adjacents. Ils peuvent effectuer indépendamment des opérations de correspondance d'identification de sonde à l'aide de données d'identification de sonde de sondes compatibles et incompatibles, et le SC-MPIC le plus élevé l'effectue en premier. Les éléments SC-MPC passent avantageusement à travers ou isolent des signaux d'autres éléments de l'ensemble en fonction de la hiérarchie, de divers signaux reçus, et d'un traitement interne.
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)