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1. (WO2019003659) DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'ÉCHANTILLON
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N° de publication : WO/2019/003659 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/018259
Date de publication : 03.01.2019 Date de dépôt international : 11.05.2018
CIB :
G01N 35/08 (2006.01) ,B81B 3/00 (2006.01) ,G01N 35/02 (2006.01) ,G01N 37/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35
Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
08
en utilisant un courant d'échantillons discrets circulant dans une canalisation, p.ex. analyse à injection dans un écoulement
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
81
TECHNOLOGIE DES MICROSTRUCTURES
B
DISPOSITIFS OU SYSTÈMES À MICROSTRUCTURE, p.ex. DISPOSITIFS MICROMÉCANIQUES
3
Dispositifs comportant des éléments flexibles ou déformables, p.ex. comportant des membranes ou des lamelles élastiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
35
Analyse automatique non limitée à des procédés ou à des matériaux spécifiés dans un seul des groupes G01N1/-G01N33/153; Manipulation de matériaux à cet effet
02
en utilisant une série de récipients à échantillons déplacés par un transporteur passant devant un ou plusieurs postes de traitement ou d'analyse
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
37
Détails non couverts par les autres groupes de la présente sous-classe
Déposants :
株式会社 日立ハイテクノロジーズ HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区西新橋一丁目24番14号 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717, JP
Inventeurs :
長岡 嘉浩 NAGAOKA Yoshihiro; JP
山崎 基博 YAMAZAKI Motohiro; JP
Mandataire :
戸田 裕二 TODA Yuji; JP
Données relatives à la priorité :
2017-12383326.06.2017JP
Titre (EN) SAMPLE PROCESSING DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'ÉCHANTILLON
(JA) 試料処理装置
Abrégé :
(EN) This sample processing device comprises: an analysis chip having a flow path on a lower surface side; a drive unit having a plurality of recesses on an upper surface side; an elastic film positioned between the analysis chip and the drive unit; and an air pressure control unit that switches whether the elastic film is adhered to the analysis chip side or adhered to the drive unit side. The analysis chip includes a quantitative flow path for quantifying liquid, and at least four branch flow paths branched from the quantitative flow path. The drive unit includes recesses below each of the ends of the four branch flow paths not on the quantitative flow path side, and each of the recesses communicates with the air pressure control unit.
(FR) L'invention concerne un dispositif de traitement d'échantillon qui comprend : une puce d'analyse ayant un trajet d'écoulement sur un côté de surface inférieure ; une unité d'entraînement ayant une pluralité d'évidements sur un côté de surface supérieure ; un film élastique positionné entre la puce d'analyse et l'unité d'entraînement ; et une unité de commande de pression d'air qui commute pour que le film élastique soit collé au côté puce d'analyse ou collé au côté unité d'entraînement. La puce d'analyse comprend un trajet d'écoulement quantitatif pour quantifier un liquide, et au moins quatre trajets d'écoulement de ramification se ramifiant à partir du trajet d'écoulement quantitatif. L'unité d'entraînement comprend des évidements au-dessous de chacune des extrémités des quatre trajets d'écoulement de ramification qui ne sont pas sur le côté trajet d'écoulement quantitatif, et chacun des évidements communique avec l'unité de commande de pression d'air.
(JA) 下面側に流路を有する分析チップ、上面側に複数の凹部を有する駆動部、分析チップと駆動部の間に位置する弾性膜、弾性膜が分析チップ側へ密着するか駆動部側へ密着するかを切り替える空気圧制御部を備えた試料処理装置であって、分析チップは、液体の定量のための定量流路と、当該定量流路から分岐した少なくとも4つの分岐流路を備え、駆動部は、4つの分岐流路における定量流路側でない端部のそれぞれの下方に凹部を有し、それぞれの凹部は空気圧制御部に連通している試料処理装置である。
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)