Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2019003411) DISPOSITIF D'ESSAI DE TENSION D'IMPULSION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2019/003411 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/024114
Date de publication : 03.01.2019 Date de dépôt international : 30.06.2017
CIB :
G01R 31/14 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
12
Essai de la rigidité diélectrique ou de la tension disruptive
14
Circuits à cet effet
Déposants :
三菱電機株式会社 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内二丁目7番3号 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310, JP
Inventeurs :
伊藤 彰俊 ITO, Akitoshi; JP
青野 一朗 AONO, Kazuaki; JP
Mandataire :
特許業務法人深見特許事務所 FUKAMI PATENT OFFICE, P.C.; 大阪府大阪市北区中之島三丁目2番4号 中之島フェスティバルタワー・ウエスト Nakanoshima Festival Tower West, 2-4, Nakanoshima 3-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) IMPULSE VOLTAGE TESTING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ESSAI DE TENSION D'IMPULSION
(JA) インパルス電圧試験装置
Abrégé :
(EN) This impulse testing device (1) is provided with a first terminal (P1), a second terminal (P2), a voltage generation circuit (11), and an oscillation suppression circuit (13). The oscillation suppression circuit (13) includes a discharge switch (130) and a capacitor (Cg). The discharge switch (130) has a first electrode (131) and a second electrode (132). The first electrode (131) is connected to the first terminal (P1). The second electrode (132) is disposed at a gap from the first electrode (131). The discharge switch (130) is electrically conducted when the voltage difference between the first electrode (131) and the second electrode (132) is greater than a discharge voltage corresponding to the gap between the first electrode (131) and the second electrode (132). The capacitor is connected between the second electrode (132) and the second terminal (P2).
(FR) L'invention concerne un dispositif d'essai d'impulsion (1) pourvu d'une première borne (P1), d'une seconde borne (P2), d'un circuit générateur de tension (11) et d'un circuit de suppression d'oscillations (13). Le circuit de suppression d'oscillations (13) comprend un commutateur de décharge (130) et un condensateur (Cg). Le commutateur de décharge (130) comporte une première électrode (131) et une seconde électrode (132). La première électrode (131) est connectée à la première borne (P1). La seconde électrode (132) est disposée à un certain espacement de la première électrode (131). Le commutateur de décharge (130) est électriquement conducteur lorsque la différence de tension entre la première électrode (131) et la seconde électrode (132) est supérieure à une tension de décharge correspondant à l'espacement séparant la première électrode (131) de la seconde électrode (132). Le condensateur est branché entre la seconde électrode (132) et la seconde borne (P2).
(JA) 本発明に係るインパルス試験装置(1)は、第一端子(P1)と、第二端子(P2)と、電圧発生回路(11)と、振動抑制回路(13)とを備える。振動抑制回路(13)は、放電スイッチ(130)と、コンデンサ(Cg)とを含む。放電スイッチ(130)は、第一電極(131)および第二電極(132)を有する。第一電極(131)は、第一端子(P1)に接続されている。第二電極(132)は、第一電極(131)と間隔を空けて配置されている。放電スイッチ(130)は、第一電極(131)と第二電極(132)との間の電圧差が、第一電極(131)と第二電極(132)との間の間隔に対応する放電電圧よりも大きい場合に導通する。コンデンサは、第二電極(132)と第二端子(P2)との間に接続されている。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)