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1. (WO2019001098) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES D'INSPECTION DE QUALITÉ AMÉLIORÉE
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N° de publication : WO/2019/001098 N° de la demande internationale : PCT/CN2018/083352
Date de publication : 03.01.2019 Date de dépôt international : 17.04.2018
CIB :
G01N 21/892 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
89
dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles
892
caractérisée par la crique, le défaut ou la caractéristique de l'objet examiné
Déposants :
MIDEA GROUP CO., LTD. [CN/CN]; B26-28F, Midea Headquarter Building, No. 6 Midea Avenue, Beijiao, Shunde Foshan, Guangdong 528311, CN
Inventeurs :
WANG, Dongyan; US
GU, Haisong; US
Mandataire :
CHINA PAT INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; 2nd Floor, Zhongguancun Intellectual Property Building, Block B, No. 21 Haidian South Road Haidian District Beijing 100080, CN
Données relatives à la priorité :
15/633,44326.06.2017US
Titre (EN) METHODS AND SYSTEMS FOR IMPROVED QUALITY INSPECTION
(FR) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES D'INSPECTION DE QUALITÉ AMÉLIORÉE
Abrégé :
(EN) A method of identifying product defects on a production line includes receiving data from a plurality of edge devices monitoring a product on a production line for product defects. The data includes unique perspectives of the product captured by the edge devices. The method further includes generating an overall view of the product by merging each unique perspective of the product captured by respective edge devices of the plurality, and comparing the overall view with characteristic (s) of the product. Based on the comparing, the method further includes determining whether a degree of difference between the overall view and the characteristic (s) satisfies one or more criteria, and upon determining that the degree of difference between the overall view and the characteristic (s) satisfies at least one criterion of the one or more criteria, recording and reporting a defect associated with the product according to the difference between the view and the characteristic (s).
(FR) La présente invention concerne un procédé d'identification des défauts d'un produit sur une ligne de production, le procédé comprenant la réception de données provenant d'une pluralité de dispositifs périphériques surveillant un produit sur une ligne de production pour des défauts de produit. Les données comprennent des perspectives uniques du produit capturées par les dispositifs périphériques. Le procédé comprend en outre la génération d'une vue globale du produit par la fusion de chaque perspective unique du produit capturées par des dispositifs périphériques respectifs de la pluralité, et la comparaison de la vue globale avec une ou plusieurs caractéristiques du produit. Sur la base de la comparaison, le procédé consiste en outre à déterminer si un degré de différence entre la vue globale et la ou les caractéristiques satisfait un ou plusieurs critères et, quand il est déterminé que le degré de différence entre la vue globale et la ou les caractéristiques satisfait au moins un critère parmi le ou les critères, à enregistrer et à signaler un défaut associé au produit en fonction de la différence entre la vue et la ou les caractéristiques.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)