Mobile |
Deutsch |
English |
Español |
日本語 |
한국어 |
Português |
Русский |
中文 |
العربية |
PATENTSCOPE
Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
Options
Recherche
Résultats
Interface
Office
Traduction
Langue d'interrogation
Bulgare
Laotien
Roumain
allemand
anglais
arabe
chinois
coréen
danois
espagnol
estonien
français
hébreu
indonésien
italien
japonais
polonais
portugais
russe
suédois
thaï
toutes
vietnamien
Stemming/Racinisation
Trier par:
Pertinence
Date de pub. antichronologique
Date de pub. chronologique
Date de demande antichronologique
Date de demande chronologique
Nombre de réponses par page
10
50
100
200
Langue pour les résultats
Langue d'interrogation
anglais
espagnol
coréen
vietnamien
hébreu
portugais
français
allemand
japonais
russe
chinois
italien
polonais
danois
suédois
arabe
estonien
indonésien
thaï
Bulgare
Laotien
Roumain
Champs affichés
Numéro de la demande
Date de publication
Abrégé
Nom du déposant
Classification internationale
Image
Nom de l'inventeur
Tableau/Graphique
Tableau
Graphique
Regroupement
*
Aucun
Offices of NPEs
Code CIB
Déposants
Inventeurs
Dates de dépôt
Dates de publication
Pays
Nombre d'entrées par groupe
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
Download Fields
NPEs
Page de recherche par défaut
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Recherche par semaine (PCT)
Expansion de requête multilingue
Traducteur
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Recherche par semaine (PCT)
Expansion de requête multilingue
Traducteur
Champ de recherche par défaut
Front Page
Any Field
Full Text
ID/Numbers
IPC
Names
Dates
Front Page
Any Field
Full Text
ID/Numbers
IPC
Names
Dates
Langue de l'interface
English
Deutsch
Français
Español
日本語
中文
한국어
Português
Русский
English
Deutsch
Français
Español
日本語
中文
한국어
Português
Русский
Interface multi-fenêtres
Bulle d'aide
Bulles d'aide pour la CIB
Instant Help
Expanded Query
Office:
Tous
Tous
PCT
Afrique
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO)
Égypte
Kenya
Maroc
Tunisie
Afrique du Sud
Amérique
États-Unis d'Amérique
Canada
LATIPAT
Argentine
Brésil
Chili
Colombie
Costa Rica
Cuba
Rép. dominicaine
Équateur
El Salvador
Guatemala
Honduras
Mexique
Nicaragua
Panama
Pérou
Uruguay
Asie-Europe
Australie
Bahreïn
Chine
Danemark
Estonie
Office eurasien des brevets (OEAB)
Office européen des brevets (OEB
France
Allemagne
Allemagne (données RDA)
Israël
Japon
Jordanie
Portugal
Fédération de Russie
Fédération de Russie (données URSS)
Arabie saoudite
Émirats arabes unis
Espagne
Rép. de Corée
Inde
Royaume-Uni
Géorgie
Bulgarie
Italie
Roumanie
République démocratique populaire lao
Asean
Singapour
Viet Nam
Indonésie
Cambodge
Malaisie
Brunei Darussalam
Philippines
Thaïlande
WIPO translate (Wipo internal translation tool)
Recherche
Recherche simple
Recherche avancée
Combinaison de champs
Expansion de requête multilingue
Composés chimiques (connexion requise)
Options de navigation
Recherche par semaine (PCT)
Archive Gazette
Entrées de Phase National
Téléchargement intégral
Téléchargement incrémental (7 derniers jours)
Listages de séquences
L’inventaire vert selon la CIB
Portail d'accès aux registres de brevets nationaux
Traduction
WIPO Translate
WIPO Pearl
Quoi de neuf
Quoi de neuf sur PATENTSCOPE
Connexion
ui-button
Connexion
Créer un compte
Options
Options
Aide
ui-button
Comment rechercher
Guide d'utilisation PATENTSCOPE
Guide d'utilisation: Recherche multilingue
User Guide: ChemSearch
Syntaxe de recherche
Définition des champs
Code pays
Données disponibles
Demandes PCT
Entrée en phase nationale PCT
Collections nationales
Global Dossier public
FAQ
Observations et contact
Codes INID
Codes de type de document
Tutoriels
À propos
Aperçu
Avertissement & Conditions d'utilisation
Clause de non-responsabilité
Accueil
Services
PATENTSCOPE
Traduction automatique
Wipo Translate
arabe
allemand
anglais
espagnol
français
japonais
coréen
portugais
russe
chinois
Google Translate
Bing/Microsoft Translate
Baidu Translate
arabe
anglais
français
allemand
espagnol
portugais
russe
coréen
japonais
chinois
...
Italian
Thai
Cantonese
Classical Chinese
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter à
Observations et contact
1. (WO2018227962) MASQUE, PROCÉDÉ DE FORMATION DE TROU, ET PROCÉDÉ DE FORMATION DE SUBSTRAT D'AFFICHAGE, SUBSTRAT D'AFFICHAGE ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE
Données bibliographiques PCT
Texte intégral
Dessins
Phase nationale
Notifications
Documents
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international
Formuler une observation
Lien permanent
Lien permanent
Ajouter aux favoris
N° de publication :
WO/2018/227962
N° de la demande internationale :
PCT/CN2018/072215
Date de publication :
20.12.2018
Date de dépôt international :
11.01.2018
CIB :
G03F 1/54
(2012.01)
G
PHYSIQUE
03
PHOTOGRAPHIE; CINÉMATOGRAPHIE; TECHNIQUES ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES QUE DES ONDES OPTIQUES; ÉLECTROGRAPHIE; HOLOGRAPHIE
F
PRODUCTION PAR VOIE PHOTOMÉCANIQUE DE SURFACES TEXTURÉES, p.ex. POUR L'IMPRESSION, POUR LE TRAITEMENT DE DISPOSITIFS SEMI-CONDUCTEURS; MATÉRIAUX À CET EFFET; ORIGINAUX À CET EFFET; APPAREILLAGES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À CET EFFET
1
Originaux pour la production par voie photomécanique de surfaces texturées, p.ex. masques, photomasques ou réticules; Masques vierges ou pellicules à cet effet; Réceptacles spécialement adaptés à ces originaux; Leur préparation
54
Absorbeurs, p.ex. en matériau opaque
Déposants :
京东方科技集团股份有限公司 BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD.
[CN/CN]; 中国北京市 朝阳区酒仙桥路10号 No.10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District Beijing 100015, CN
重庆京东方光电科技有限公司 CHONGQING BOE OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD.
[CN/CN]; 中国重庆市 北碚区水土高新技术产业园云汉大道7号 No.7 Yunhan Rd., Shuitu Hi-tech Industrial Zone, Beibei District Chongqing 400714, CN
Inventeurs :
王小元 WANG, Xiaoyuan
; CN
杨妮 YANG, Ni
; CN
方琰 FANG, Yan
; CN
齐智坚 QI, Zhijian
; CN
李云泽 LI, Yunze
; CN
许亨艺 XU, Hengyi
; CN
Mandataire :
北京银龙知识产权代理有限公司 DRAGON INTELLECTUAL PROPERTY LAW FIRM
; 中国北京市 海淀区西直门北大街32号院枫蓝国际中心2号楼10层 10F, Bldg. 2, Maples International Center No. 32 Xizhimen North Street, Haidian District Beijing 100082, CN
Données relatives à la priorité :
201710447407.2
14.06.2017
CN
Titre
(EN)
MASK, METHOD FOR FORMING HOLE, METHOD FOR FORMING DISPLAY SUBSTRATE, DISPLAY SUBSTRATE, AND DISPLAY DEVICE
(FR)
MASQUE, PROCÉDÉ DE FORMATION DE TROU, ET PROCÉDÉ DE FORMATION DE SUBSTRAT D'AFFICHAGE, SUBSTRAT D'AFFICHAGE ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE
(ZH)
掩膜版、过孔及显示基板的形成方法、显示基板及装置
Abrégé :
(EN)
A mask (10) and a method for forming a hole (21). The mask (10) is used for forming the hole (21) on a film layer, and comprises: a light-transmitting pattern (11) used for forming the hole (21), the light-transmitting pattern (11) having one or more curved edges. In an exposure process of forming the hole (21), the light transmission amount at edges of the light-transmitting pattern (11) is small, and only a part of thickness of the film layer corresponding to the part can be exposed, such that the slope angle of the inner wall of the formed hole (21) is small.
(FR)
L'invention concerne un masque (10) et un procédé de formation d'un trou (21). Le masque (10) est utilisé pour former le trou (21) sur une couche de film, et comprend : un motif de transmission de lumière (11) utilisé pour former le trou (21), le motif de transmission de lumière (11) ayant un ou plusieurs bords incurvés. Dans un processus d'exposition consistant à former le trou (21), la quantité de transmission de lumière au niveau des bords du motif de transmission de lumière (11) est petite, et seule une partie d'épaisseur de la couche de film correspondant à la partie peut être exposée, de telle sorte que l'angle de pente de la paroi interne du trou formé (21) soit petit.
(ZH)
一种掩膜版(10)及过孔(21)的形成方法。该掩膜版(10)用于在膜层上形成过孔(21),包括:用于形成过孔(21)的透光图案(11),透光图案(11)具有一个或多个弯曲的一个或多个边缘。在形成过孔(21)的曝光工艺中,透光图案(11)边缘处的光的透过量较小,该部分对应的膜层只能曝光掉一部分厚度,使得形成的过孔(21)内壁的坡度角较小。
États désignés :
AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication :
chinois (
ZH
)
Langue de dépôt :
chinois (
ZH
)