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1. (WO2018226270) PROCÉDÉ DE RÉDUCTION DE PERTE DE CHARGE DANS DES MÉMOIRES NON VOLATILES
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N° de publication : WO/2018/226270 N° de la demande internationale : PCT/US2018/018995
Date de publication : 13.12.2018 Date de dépôt international : 21.02.2018
CIB :
H01L 29/792 (2006.01) ,H01L 27/11563 (2017.01) ,H01L 29/772 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
29
Dispositifs à semi-conducteurs spécialement adaptés au redressement, à l'amplification, à la génération d'oscillations ou à la commutation et ayant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface; Condensateurs ou résistances ayant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface, p.ex. jonction PN, région d'appauvrissement, ou région de concentration de porteurs de charges; Détails des corps semi-conducteurs ou de leurs électrodes
66
Types de dispositifs semi-conducteurs
68
commandables par le seul courant électrique fourni ou par la seule tension appliquée, à une électrode qui ne transporte pas le courant à redresser, amplifier ou commuter
76
Dispositifs unipolaires
772
Transistors à effet de champ
78
l'effet de champ étant produit par une porte isolée
792
à isolant de grille à emmagasinage de charges, p.ex. transistor de mémoire MNOS
[IPC code unknown for ERROR Code IPC incorrect: sous-groupe non valide (0=>999999)!]
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
29
Dispositifs à semi-conducteurs spécialement adaptés au redressement, à l'amplification, à la génération d'oscillations ou à la commutation et ayant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface; Condensateurs ou résistances ayant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface, p.ex. jonction PN, région d'appauvrissement, ou région de concentration de porteurs de charges; Détails des corps semi-conducteurs ou de leurs électrodes
66
Types de dispositifs semi-conducteurs
68
commandables par le seul courant électrique fourni ou par la seule tension appliquée, à une électrode qui ne transporte pas le courant à redresser, amplifier ou commuter
76
Dispositifs unipolaires
772
Transistors à effet de champ
Déposants :
CYPRESS SEMICONDUCTOR CORPORATION [US/US]; 198 Champion Court San Jose, California 95134, US
Inventeurs :
SINGH, Pawan; US
SHETTY, Shivananda; US
PAK, James; US
Données relatives à la priorité :
15/614,27105.06.2017US
Titre (EN) METHOD OF REDUCING CHARGE LOSS IN NON-VOLATILE MEMORIES
(FR) PROCÉDÉ DE RÉDUCTION DE PERTE DE CHARGE DANS DES MÉMOIRES NON VOLATILES
Abrégé :
(EN) A memory apparatus that has at least two non-volatile memory (NVM) cells disposed side by side overlying a substrate and an isolation structure disposed between the first and second NVM cells in the substrate. The first and second NVM cells share a common charge trapping layer that includes a continuous structure, and the portion of the common charge trapping layer that is disposed directly above the isolation structure includes a higher oxygen and/or nitrogen concentration than the portions of the common charge trapping layer that are disposed within the first and second NVM cells.
(FR) La présente invention concerne un appareil de mémoire qui comprend au moins deux cellules mémoires non volatiles (NVM) disposées côte à côte recouvrant un substrat et une structure d'isolement disposée entre les première et seconde cellules NVM dans le substrat. Les première et seconde cellules NVM partagent une couche de piégeage de charge commune qui comprend une structure continue, et la partie de la couche de piégeage de charge commune qui est disposée directement au-dessus de la structure d'isolement comprend une concentration d'oxygène et/ou d'azote plus élevée que les parties de la couche de piégeage de charge commune qui sont disposées à l'intérieur des première et seconde cellules NVM.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)