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1. (WO2018223418) PROCÉDÉ, DISPOSITIF ET SYSTÈME D'ESSAI DE PANNEAUX D'AFFICHAGE
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N° de publication : WO/2018/223418 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/089085
Date de publication : 13.12.2018 Date de dépôt international : 20.06.2017
CIB :
G02F 1/13 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
F
DISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
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Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source de lumière indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
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pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
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basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
Déposants :
惠科股份有限公司 HKC CORPORATION LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园 Huike Industrial Park, Minying Industrial Park Shuitian Country, Shiyan, Baoan District Shenzhen, Guangdong 518000, CN
重庆惠科金渝光电科技有限公司 CHONGQING HKC OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国重庆市 巴南区界石镇石景路1号 No.1 Shijing Rd., Jieshi, Banan District Chongqing 401320, CN
Inventeurs :
蔡佳仁 TSAI, Chia-jen; CN
Mandataire :
深圳市精英专利事务所 SHENZHEN TALENT PATENT SERVICE; 中国广东省深圳市 福田区深南中路6009号绿景广场B栋20层B B, 20/F, Building B Lvjing Square 6009 Shennan Middle Road, Futian District Shenzhen, Guangdong 518000, CN
Données relatives à la priorité :
201710423085.807.06.2017CN
Titre (EN) DISPLAY PANEL TESTING METHOD, DEVICE AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ, DISPOSITIF ET SYSTÈME D'ESSAI DE PANNEAUX D'AFFICHAGE
(ZH) 一种显示面板检测方法、装置及系统
Abrégé :
(EN) Provided are a display panel testing method, device and system, the method involving: by means of inputting power supply voltage to a plurality of display panels in a mother substrate (20) (S101), transmitting a pre-set drive signal to the plurality of display panels so as to display a pre-set test picture (S102); collecting a picture image when the pre-set test picture is displayed (S103); and detecting, according to a pre-set defect detection rule, the picture image so as to complete picture detection (S104). The invention can quickly complete the picture detection on the display panel, preventing batch abnormalities in the production line.
(FR) La présente invention a trait à un procédé, un dispositif et un système d'essai de panneaux d'affichage, le procédé consistant : au moyen de l'entrée d'une tension d'alimentation électrique dans une pluralité de panneaux d'affichage dans un substrat mère (20) (S101), à transmettre un signal d'excitation prédéfini à la pluralité de panneaux d'affichage de façon à afficher une image d'essai prédéfinie (S102) ; à collecter une représentation d'image lorsque l'image d'essai prédéfinie est affichée (S103) ; et à détecter, selon une règle de détection de défauts prédéfinie, la représentation d'image de façon à achever la détection d'image (S104). La présente invention peut achever rapidement la détection d'image sur le panneau d'affichage, ce qui évite des anomalies de lots sur la chaîne de production.
(ZH) 一种显示面板检测方法、装置及系统,其中方法通过输入电源电压到母基板(20)中的多个显示面板(S101);向多个显示面板传输预设驱动信号以显示预设测试画面(S102);采集显示预设测试画面时的画面图像(S103);根据预设缺陷检测规则检测画面图像以完成画面检测(S104)。可快速完成对显示面板的画面检测,避免产线出现批量性异常。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)