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1. (WO2018222707) SONDES DE MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE ET PROCÉDÉS DE FABRICATION DE SONDES
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N° de publication : WO/2018/222707 N° de la demande internationale : PCT/US2018/035119
Date de publication : 06.12.2018 Date de dépôt international : 30.05.2018
CIB :
G01Q 60/38 (2010.01) ,B82Y 35/00 (2011.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
60
Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24
Microscopie à forces atomiques AFM [Atomic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
38
Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
82
NANOTECHNOLOGIE
Y
UTILISATION OU APPLICATIONS SPÉCIFIQUES DES NANOSTRUCTURES; MESURE OU ANALYSE DES NANOSTRUCTURES; FABRICATION OU TRAITEMENT DES NANOSTRUCTURES
35
Procédés ou appareils pour la mesure ou l’analyse des nanostructures
Déposants :
SCUBA PROBE TECHNOLOGIES LLC [US/US]; 255 Lina Ave. Alameda, CA 94501, US
Inventeurs :
ZIEGLER, Dominik; US
Mandataire :
LEE, Jessamine, N.; US
Données relatives à la priorité :
62/603,45430.05.2017US
Titre (EN) ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBES AND METHODS OF MANUFACTURING PROBES
(FR) SONDES DE MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE ET PROCÉDÉS DE FABRICATION DE SONDES
Abrégé :
(EN) Articles and methods related to scanning probe microscopy probes are generally provided. A scanning probe microscopy probe may comprise a chip, a mechanical resonator attached to the chip, a tip attached to the mechanical resonator, and a handle attached to the chip The handle may have a length of at least 5 mm and an average thickness of less than or equal to 500 microns. The probe may further comprise an insulating coating covering both the chip and the handle.
(FR) L'invention concerne d'une manière générale des articles et des procédés associés à des sondes de microscopie à sonde de balayage. Une sonde de microscopie à sonde de balayage peut comprendre une puce, un résonateur mécanique fixé à la puce, une pointe fixée au résonateur mécanique et une poignée fixée à la puce, la poignée pouvant présenter une longueur d'au moins 5 mm et une épaisseur moyenne inférieure ou égale à 500 microns. La sonde peut en outre comprendre un revêtement isolant recouvrant à la fois la puce et la poignée.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)