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1. (WO2018221923) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉPAISSEUR DE MATÉRIAU COSMÉTIQUE
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N° de publication : WO/2018/221923 N° de la demande internationale : PCT/KR2018/006067
Date de publication : 06.12.2018 Date de dépôt international : 29.05.2018
CIB :
G01B 11/06 (2006.01) ,G06F 17/10 (2006.01) ,A61B 5/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
06
pour mesurer l'épaisseur
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
17
Equipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des fonctions spécifiques
10
Opérations mathématiques complexes
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
5
Mesure servant à établir un diagnostic; Identification des individus
Déposants :
(주)아모레퍼시픽 AMOREPACIFIC CORPORATION [KR/KR]; 서울시 용산구 한강대로 100 100, Hangang-daero, Yongsan-gu, Seoul 04386, KR
Inventeurs :
이명렬 LEE, Myeongryeol; KR
김은주 KIM, Eun Joo; KR
연영민 YEON, Yeongmin; KR
이해광 LEE, Haekwang; KR
Mandataire :
김순영 KIM, Sun-young; KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-006765031.05.2017KR
Titre (EN) COSMETIC MATERIAL THICKNESS MEASURING DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉPAISSEUR DE MATÉRIAU COSMÉTIQUE
(KO) 화장료의 두께 측정 장치 및 방법
Abrégé :
(EN) The present invention relates to a cosmetic material thickness measuring device and thickness measuring method, and the cosmetic material thickness measuring device, according to one embodiment of the present invention, comprises: an extinction coefficient calculating unit for calculating an extinction coefficient of a test cosmetic material; an internal reflective light measuring unit for measuring the intensity of internal reflective light prior to the application of the test cosmetic material to target skin and the intensity of internal reflective light after the application of the test cosmetic material to the target skin; and a thickness calculating unit for calculating the thickness of the test cosmetic material according to Lambert's law on the basis of the calculated extinction coefficient and the intensity of reflective light prior to and after the application of the test cosmetic material.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de mesure d'épaisseur de matériau cosmétique et un procédé de mesure d'épaisseur, le dispositif de mesure d'épaisseur de matériau cosmétique selon un mode de réalisation de la présente invention comprenant : une unité de calcul de coefficient d'extinction permettant de calculer un coefficient d'extinction d'un matériau cosmétique de test ; une unité de mesure de lumière réfléchissante interne permettant de mesurer l'intensité de la lumière réfléchissante interne avant l'application du matériau cosmétique de test sur une peau cible et l'intensité de la lumière réfléchissante interne après l'application du matériau cosmétique de test sur la peau cible ; et une unité de calcul d'épaisseur permettant de calculer l'épaisseur du matériau cosmétique de test conformément à la loi de Lambert en fonction du coefficient d'extinction calculé et de l'intensité de la lumière réfléchissante avant et après l'application du matériau cosmétique de test.
(KO) 본 발명은 화장료의 두께 측정 장치 및 두께 측정 방법에 관한 것으로서, 본 발명의 일 실시예에 따른 화장료의 두께 측정 장치는, 테스트 화장료의 흡광 계수를 산출하는 흡광 계수 산출부, 대상 피부에 상기 테스트 화장료를 도포하기 전의 내부 반사광의 세기와, 상기 대상 피부에 상기 테스트 화장료를 도포하고 난 후의 내부 반사광의 세기를 측정하는 내부 반사광 측정부, 및 산출된 흡광 계수와 상기 테스트 화장료를 도포하기 전과 후의 반사광의 세기에 기초하여, 상기 람베르트 법칙에 따라 상기 테스트 화장료의 두께를 산출하는 두께 산출부를 포함한다.
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)