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1. (WO2018221910) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE ET APPAREIL ASSOCIÉ

Pub. No.:    WO/2018/221910    International Application No.:    PCT/KR2018/006035
Publication Date: Fri Dec 07 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue May 29 01:59:59 CEST 2018
IPC: H04B 17/14
H04B 17/21
H04B 1/44
Applicants: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
삼성전자주식회사
Inventors: HONG, Seongbeom
홍성범
Title: PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE ET APPAREIL ASSOCIÉ
Abstract:
La présente invention concerne l'étalonnage d'un dispositif électronique. Un procédé de fonctionnement d'un dispositif électronique peut comprendre les opérations consistant à : définir un premier trajet pour un premier étalonnage d'un trajet de transmission ; effectuer un premier étalonnage du trajet de transmission à l'aide du premier trajet ; définir un second trajet pour un second étalonnage d'un trajet d'émission-réception ; effectuer le second étalonnage du trajet d'émission-réception à l'aide du second trajet ; et générer des données indiquant un résultat d'étalonnage d'un trajet de réception, sur la base d'un résultat obtenu par le premier étalonnage et le second étalonnage. Divers autres modes de réalisation sont possibles.