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1. (WO2018221046) SYSTÈME D'INSPECTION AUTOMATIQUE ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DE SYSTÈME D'INSPECTION AUTOMATIQUE
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N° de publication : WO/2018/221046 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/015890
Date de publication : 06.12.2018 Date de dépôt international : 17.04.2018
CIB :
G08C 17/00 (2006.01) ,G05B 23/02 (2006.01) ,G08C 15/00 (2006.01) ,H04Q 9/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
08
SIGNALISATION
C
SYSTÈMES DE TRANSMISSION POUR VALEURS MESURÉES, SIGNAUX DE COMMANDE OU SIMILAIRES
17
Dispositions pour transmettre des signaux caractérisées par l'utilisation d'une voie électrique sans fil
G PHYSIQUE
05
COMMANDE; RÉGULATION
B
SYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU D'ESSAIS DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
23
Essai ou contrôle des systèmes de commande ou de leurs éléments
02
Essai ou contrôle électrique
G PHYSIQUE
08
SIGNALISATION
C
SYSTÈMES DE TRANSMISSION POUR VALEURS MESURÉES, SIGNAUX DE COMMANDE OU SIMILAIRES
15
Dispositions caractérisées par l'utilisation du multiplexage pour la transmission de plusieurs signaux par une voie commune
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
Q
SÉLECTION
9
Dispositions dans les systèmes de commande à distance ou de télémétrie pour appeler sélectivement une sous-station à partir d'une station principale, sous-station dans laquelle un appareil recherché est choisi pour appliquer un signal de commande ou pour obtenir des valeurs mesurées
Déposants :
株式会社日立製作所 HITACHI, LTD. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内一丁目6番6号 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
Inventeurs :
本田 淳平 HONDA, Jumpei; JP
西村 卓真 NISHIMURA, Takuma; JP
柏原 広茂 KASHIWABARA, Hiroshige; JP
仲井 英剛 NAKAI, Hidemasa; JP
五十嵐 悠一 IGARASHI. Yuichi; JP
中野 亮 NAKANO, Ryo; JP
Mandataire :
特許業務法人ウィルフォート国際特許事務所 WILLFORT INTERNATIONAL PATENT FIRM; 東京都中央区日本橋小網町19-7 日本橋TCビル 1階 Nihonbashi TC Bldg. 1F, 19-7, Nihonbashi Koamicho, Chuo-ku, Tokyo 1030016, JP
Données relatives à la priorité :
2017-11015702.06.2017JP
Titre (EN) AUTOMATIC INSPECTION SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING AUTOMATIC INSPECTION SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION AUTOMATIQUE ET PROCÉDÉ DE COMMANDE DE SYSTÈME D'INSPECTION AUTOMATIQUE
(JA) 自動点検システムおよび自動点検システムの制御方法
Abrégé :
(EN) The purpose of the present invention is to make it possible to improve the efficiency of inspection work. A read device 1 being inspected comprises: a wireless slave station 10 in communication over a wireless network; a measurement unit 11 for measuring the state of an object 3 for inspection; and an analysis unit 12 for generating measurement data. The read device 1 being inspected transmits the generated measurement data via the wireless network from the wireless slave station. An automatic inspection system further comprises: a wireless master station 20 in communication via a wireless network with each of the read devices being inspected; a data acquisition unit 21 for acquiring the measurement data via the wireless master station from each of the read devices being inspected; a data storage unit 25 for storing the measurement data; an evaluation-criteria-storing unit 26 for storing evaluation criteria relating to the measurement data; and an inspection unit 22 whereby prescribed measurement data selected from among the stored measurement data, and prescribed evaluation criteria corresponding to the prescribed measurement data from among the stored evaluation criteria, are output in association with each other.
(FR) La présente invention a pour objet de permettre d'améliorer l'efficacité du travail d'inspection. Un dispositif de lecture (1) inspecté comprend : une station esclave sans fil (10) en communication sur un réseau sans fil; une unité de mesure (11) destinée à mesurer l'état d'un objet (3) pour l'inspection; et une unité d'analyse (12) destinée à générer des données de mesure. Le dispositif de lecture (1) inspecté transmet les données de mesure générées par le biais du réseau sans fil à partir de la station esclave sans fil. Un système d'inspection automatique comprend en outre : une station maître sans fil (20) en communication par le biais d'un réseau sans fil avec chacun des dispositifs de lecture inspectés; une unité d'acquisition de données (21) destinée à acquérir les données de mesure par le biais de la station maître sans fil à partir de chacun des dispositifs de lecture inspectés; une unité de stockage de données (25) destinée à stocker les données de mesure; une unité de stockage de critères d'évaluation (26) destinée à stocker des critères d'évaluation concernant les données de mesure; et une unité d'inspection (22). Des données de mesure prescrites, sélectionnées parmi les données de mesure stockées, et des critères d'évaluation prescrits correspondant aux données de mesure prescrites parmi les critères d'évaluation stockés sont émis en association les uns avec les autres.
(JA) 点検作業の効率を向上できるようにすること。 点検対象読取り装置1は、無線ネットワークを通じて通信する無線子局10と、点検対象3の状態を計測する計測部11と、計測データを生成する解析部12と、を備え、かつ生成された計測データを無線子局から無線ネットワークを介して送信する。さらに自動点検システムは、無線ネットワークを介して各点検対象読取り装置と通信する無線親局20と、無線親局を介して各点検対象読取り装置から計測データを取得するデータ取得部21と、計測データを記憶するデータ記憶部25と、計測データに関連する判定条件を記憶する判定条件記憶部26と、記憶されている計測データのうち選択される所定の計測データと記憶されている判定条件のうち所定の計測データに対応する所定の判定条件とを対応付けて出力する点検部22と、を備える。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)