Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018200350) MESURE DE RAYON DE COURBURE PAR INTERFÉROMÉTRIE À COMMANDE SPECTRALE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/200350 N° de la demande internationale : PCT/US2018/028796
Date de publication : 01.11.2018 Date de dépôt international : 23.04.2018
CIB :
G01B 11/24 (2006.01) ,G01B 9/02 (2006.01) ,G01B 9/023 (2006.01) ,G01B 11/30 (2006.01) ,G01B 21/20 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
9
Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure optiques
02
Interféromètres
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
9
Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure optiques
02
Interféromètres
021
utilisant des techniques holographiques
023
pour produire des contours
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
30
pour mesurer la rugosité ou l'irrégularité des surfaces
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
20
pour mesurer des contours ou des courbes, p.ex. pour déterminer un profil
Déposants :
OLSZAK, Artur [US/US]; US
APRE INSTRUMENTS, LLC [US/US]; 2440 W. Ruthrauff Rd., Suite 100 Tucson, AZ 85705, US
Inventeurs :
OLSZAK, Artur; US
Mandataire :
DURANDO, Antonio, R.; US
Données relatives à la priorité :
15/959,33323.04.2018US
62/489,00824.04.2017US
62/490,02926.04.2017US
Titre (EN) RADIUS-OF-CURVATURE MEASUREMENT BY SPECTRALLY-CONTROLLED INTERFEROMETRY
(FR) MESURE DE RAYON DE COURBURE PAR INTERFÉROMÉTRIE À COMMANDE SPECTRALE
Abrégé :
(EN) The ROC value of a test surface (14) is measured with a single spectrally- controlled interferometric measurement using a reference source (18) of known ROC. The test surface is placed at the confocal position (24) of the reference surface and the light source (16) is modulated so as to produce localized interference fringes (30-34, 36-40, 42-46) at the location of the test surface. The interference fringes are then processed with conventional interferometric analysis tools to establish the exact position of the test surface in relation to the reference surface, thereby determining the distance between the test surface and the reference surface. The radius of curvature of the test surface is obtained simply by subtracting such distance from the known radius of curvature of the reference surface.
(FR) La valeur ROC d'une surface de test (14) est mesurée par une seule mesure interférométrique à commande spectrale à l'aide d'une source de référence (18) de ROC connue. La surface de test est placée au niveau de la position confocale (24) de la surface de référence et la source de lumière (16) est modulée de manière à produire des franges d'interférence localisées (30-34, 36 42-46) à l'emplacement de la surface de test. Les franges d'interférence sont ensuite traitées avec des outils d'analyse interférométriques classiques pour établir la position exacte de la surface de test par rapport à la surface de référence, déterminant ainsi la distance entre la surface de test et la surface de référence. Le rayon de courbure de la surface de test est obtenu simplement en soustrayant une telle distance du rayon de courbure connu de la surface de référence.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)