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1. (WO2018200092) PLOTS DE TEST SACRIFICIELS POUR ACCÈS À UN TEST EN LIGNE

Pub. No.:    WO/2018/200092    International Application No.:    PCT/US2018/022712
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Fri Mar 16 00:59:59 CET 2018
IPC: H01L 21/66
H01L 23/00
Applicants: QUALCOMM INCORPORATED
Inventors: CASSIER, Amer Christophe
PAYNTER, Charles
Title: PLOTS DE TEST SACRIFICIELS POUR ACCÈS À UN TEST EN LIGNE
Abstract:
Selon la présente invention, un ensemble de puce (700) comprend un premier plot de puce (710) sur un premier côté de l'ensemble de puce, le premier côté étant caché et inaccessible pendant le test de l'ensemble de puce. L'ensemble de puce comprend en outre un deuxième plot de puce (708) sur un deuxième côté de l'ensemble de puce, opposé au premier côté. L'ensemble de puce comprend en outre une partie d'un plot de test sacrificiel (714) sur une paroi latérale de l'ensemble de puce et électriquement connectée au premier plot de puce.