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1. (WO2018200035) COMPENSATION AUTOMATIQUE DE GIGUE DE LIGNE DE VISÉE INDUITE STRUCTURELLEMENT DESTINÉE À UN SYSTÈME DE TOURELLE ÉLECTRO-OPTIQUE/INFRAROUGE
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N° de publication : WO/2018/200035 N° de la demande internationale : PCT/US2017/067506
Date de publication : 01.11.2018 Date de dépôt international : 20.12.2017
CIB :
G02B 27/64 (2006.01) ,G01B 11/27 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27
Autres systèmes optiques; Autres appareils optiques
64
Systèmes pour donner des images utilisant des éléments optiques pour la stabilisation latérale et angulaire de l'image
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
26
pour mesurer des angles ou des cônes; pour vérifier l'alignement des axes
27
pour vérifier l'alignement des axes
Déposants :
RAYTHEON COMPANY [US/US]; 870 Winter Street Waltham, Massachusetts 02451, US
Inventeurs :
MILLER, Kirk, A.; US
BAKER, Christopher, J.; US
MILLER, Steven, A.; US
NORMAN, Walter, W.; US
MARR, Lyale, F.; US
SCOTT, Richard, L.; US
Mandataire :
PLATT, Jonathan, A.; US
Données relatives à la priorité :
15/499,12027.04.2017US
Titre (EN) AUTOMATIC STRUCTURALLY INDUCED LINE OF SIGHT JITTER COMPENSATION FOR ELECTRO-OPTICAL/INFRARED TURRET SYSTEM
(FR) COMPENSATION AUTOMATIQUE DE GIGUE DE LIGNE DE VISÉE INDUITE STRUCTURELLEMENT DESTINÉE À UN SYSTÈME DE TOURELLE ÉLECTRO-OPTIQUE/INFRAROUGE
Abrégé :
(EN) A light sensor system including a reference light source that moves in unison with a primary mirror and or an inertial measurement device, and or the reference light source is directed toward an obscured region of the light sensor system. The reference light source may allow for improved jitter compensation based on feedback of the reference light. The feedback may be representative of the elastic deformation of the optics and telescope optical axis. The improved jitter compensation may allow for the light sensor system (e.g., the housing and or mirrors) to be built with less stiff materials, which can reduce the cost of the present light sensor system compared to previously known optical sensor systems. In cases of high vibration levels which would otherwise degrade the resulting image quality after material stiffness property selections have been exhausted, the light sensor system may provide jitter compensation to improve image quality.
(FR) La présente invention concerne un système de capteur de lumière comprenant une source de lumière de référence qui se déplace à l'unisson avec un miroir primaire et/ou un dispositif de mesure inertielle, et/ou la source de lumière de référence est dirigée vers une région obscurcie du système de capteur de lumière. La source de lumière de référence peut permettre une compensation de gigue améliorée sur la base d'une rétroaction de la lumière de référence. La rétroaction peut être représentative de la déformation élastique de l'optique et de l'axe optique du télescope. La compensation de gigue améliorée peut permettre au système de capteur de lumière (par exemple, le boîtier et/ou les miroirs) d'être construit avec moins de matériaux rigides, ce qui peut réduire le coût du présent système de capteur de lumière par rapport aux systèmes de capteur optique précédemment connus. Dans les cas de niveaux de vibration élevés qui, sans lui, dégraderaient la qualité d'image résultante après que des sélections de propriétés de rigidité de matériau ont été épuisées, le système de capteur de lumière peut fournir une compensation de gigue pour améliorer la qualité d'image.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
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Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)