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1. (WO2018199933) DÉTERMINATION D'UNE CARACTÉRISTIQUE D'UN SUBSTRAT

Pub. No.:    WO/2018/199933    International Application No.:    PCT/US2017/029402
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed Apr 26 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 21/86
G01B 11/00
Applicants: HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P.
Inventors: MOROVIC, Peter
MOROVIC, Jan
GOMEZ MINANO, Hector
CASALDALIGA ALBISU, Marcos
COLL SICLUNA, Joan Jordi
Title: DÉTERMINATION D'UNE CARACTÉRISTIQUE D'UN SUBSTRAT
Abstract:
L'invention concerne un procédé grâce auquel une réflexion est obtenue à partir d'un motif de lumière laser réfléchi par un substrat. Une réflexion de lumière diffuse peut être obtenue à partir du substrat. Un premier paramètre peut être déterminé, relatif au substrat à partir du motif de lumière laser réfléchie. Un second paramètre peut être déterminé, relatif au substrat à partir de la lumière diffuse réfléchie et une caractéristique du substrat peut être déterminée à partir des premier et second paramètres. L'invention concerne également un appareil d'impression et un support lisible par machine.