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1. (WO2018199403) DOUILLE DE TEST DE DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEUR

Pub. No.:    WO/2018/199403    International Application No.:    PCT/KR2017/009944
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue Sep 12 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01R 31/28
G01R 1/04
Applicants: ASIA YAMAICHI ELECTRONICS INC.
아주야마이찌 전기공업(주)
YAMAICHI ELECTRONICS CO.,LTD
야마이치덴키 가부시키가이샤
Inventors: PARK, Gwan Ki
박관기
Title: DOUILLE DE TEST DE DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEUR
Abstract:
La présente invention concerne une douille permettant le test de dispositifs à semi-conducteur, la douille comprenant : une base disposée au-dessous de la douille ; une broche de contact disposée sur la base et décalée dans la direction longitudinale de manière à entrer en contact avec un boîtier de semi-conducteur situé au-dessus ; une base de positionnement, située au-dessus de la douille, permettant de commander la position de la broche de contact ; un guide permettant de loger le boîtier de semi-conducteur au-dessus de la base de positionnement ; un couvercle situé au-dessus de la douille et pouvant se déplacer vers le haut et vers le bas ; et un ensemble verrou relié au couvercle qui se déplace en pivotant vers le haut et vers le bas à l'intérieur de ce dernier, la base de positionnement déplaçant la broche de contact dans la direction transversale de telle sorte que la partie supérieure de la broche de contact peut se déplacer vers une position souhaitée.