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1. (WO2018198553) SYSTÈME D'INSPECTION PAR RAYONS X ET DISPOSITIF DE RÉCEPTION DE CLICHÉ RADIOGRAPHIQUE
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N° de publication : WO/2018/198553 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/009496
Date de publication : 01.11.2018 Date de dépôt international : 12.03.2018
CIB :
G01N 23/04 (2018.01) ,G01N 23/083 (2018.01) ,G01N 23/10 (2018.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
04
et formant une image
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
06
et mesurant l'absorption
08
Utilisation des moyens de détection électriques
083
le rayonnement consistant en rayons X
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
06
et mesurant l'absorption
08
Utilisation des moyens de détection électriques
10
le matériau étant confiné dans un récipient
Déposants :
富士電機株式会社 FUJI ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 1-1, Tanabeshinden, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2109530, JP
オフィス西川株式会社 OFFICE NISHIKAWA CO., LTD. [JP/JP]; 東京都板橋区小茂根1-26-26 1-26-26, Komone, Itabashi-ku, Tokyo 1730037, JP
株式会社ティーアンドエス T&S CORPORATION [JP/JP]; 千葉県野田市七光台433番地1 433-1, Nanakodai, Noda-shi, Chiba 2780051, JP
Inventeurs :
小林 裕信 KOBAYASHI, Hironobu; JP
住川 健 SUMIKAWA, Takeshi; JP
笛木 豊 FUEKI, Yutaka; JP
小池 一徳 KOIKE, Kazunori; JP
崔 成民 CHOI, Seongmin; JP
西川 徹矢 NISHIKAWA, Tetsuya; JP
横島 伸 YOKOSHIMA, Shin; JP
二階堂 羊司 NIKAIDO, Yoji; JP
Mandataire :
青木 宏義 AOKI, Hiroyoshi; JP
天田 昌行 AMADA, Masayuki; JP
岡田 喜雅 OKADA, Yoshimasa; JP
Données relatives à la priorité :
2017-08842227.04.2017JP
Titre (EN) X-RAY INSPECTION SYSTEM AND X-RAY IMAGE RECEPTION DEVICE
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION PAR RAYONS X ET DISPOSITIF DE RÉCEPTION DE CLICHÉ RADIOGRAPHIQUE
(JA) X線検査システム及びX線受像装置
Abrégé :
(EN) Provided are an X-ray inspection system and an X-ray image reception device that make it possible to carry out X-ray inspection suitable also for a large object of inspection. In the present invention, an X-ray irradiation device (100) irradiates X-rays onto an object (TO) of inspection. An X-ray image reception device (200) receives a plurality of images of X-rays that have passed through a plurality of regions of the object (TO) of inspection while the position of the X-ray image reception device (200) in relation to the X-ray irradiation device (100) is changed. An X-ray image combination device (300) combines the plurality of X-ray images received by the X-ray image reception device (200).
(FR) L'invention concerne un système d'inspection par rayons X et un dispositif de réception de cliché radiographique qui permettent d'effectuer une inspection par rayons X appropriée également pour un grand objet d'inspection. Dans la présente invention, un dispositif d'irradiation par rayons X (100) émet des rayons X sur un objet (TO) d'inspection. Un dispositif de réception de cliché radiographique (200) reçoit une pluralité de clichés de rayons X qui ont traversé une pluralité de régions de l'objet (TO) d'inspection tandis que la position du dispositif de réception de cliché radiographique (200) par rapport au dispositif d'irradiation par rayons X (100) est modifiée. Un dispositif de combinaison de clichés radiographiques (300) combine la pluralité de clichés radiographiques reçus par le dispositif de réception de cliché radiographique (200).
(JA) 大型の検査対象物に対しても好適なX線検査を実行することができるX線検査システム及びX線受像装置を提供する。X線照射装置(100)は、検査対象物(TO)に対してX線を照射する。X線受像装置(200)は、X線照射装置(100)に対する相対位置を変化させながら検査対象物(TO)の複数部位を透過した複数のX線像を受像する。X線像合成装置(300)は、X線受像装置(200)が受像した複数のX線像を合成する。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)