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1. (WO2018198210) DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE DÉTERMINATION DE DISPOSITIF PRÉSENTANT UNE ANOMALIE

Pub. No.:    WO/2018/198210    International Application No.:    PCT/JP2017/016446
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Wed Apr 26 01:59:59 CEST 2017
IPC: H02J 13/00
Applicants: NEC CORPORATION
日本電気株式会社
Inventors: KOUMOTO, Shigeru
河本 滋
SUZUKI, Ryota
鈴木 亮太
PETLADWALA, Murtuza
ペトラードワラー ムルトゥザ
Title: DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE DÉTERMINATION DE DISPOSITIF PRÉSENTANT UNE ANOMALIE
Abstract:
La présente invention permet de déterminer dans quel dispositif une anomalie s'est produite quand l'anomalie est détectée dans la forme d'onde combinée d'une pluralité de dispositifs. Un dispositif de détermination de dispositif présentant une anomalie comprend : un moyen permettant de détecter une forme d'onde anormale à partir de la forme d'onde combinée d'une pluralité de dispositifs ; un moyen permettant d'éliminer la forme d'onde anormale de la forme d'onde combinée ; un moyen permettant de séparer la forme d'onde combinée de laquelle la forme d'onde anormale est éliminée dans la forme d'onde de chaque dispositif et d'identifier l'état dudit dispositif ; un moyen permettant de calculer le degré de coïncidence entre le temps pendant lequel ledit dispositif est dans l'état de marche et le moment où la forme d'onde anormale est apparue ; et un moyen permettant de déterminer, en fonction du degré de coïncidence, un dispositif dans lequel une anomalie s'est produite.