Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales

1. (WO2018196303) PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ÉTALONNAGE DE PROJECTEUR FONDÉS SUR UNE PROJECTION MULTIDIRECTIONNELLE

Pub. No.:    WO/2018/196303    International Application No.:    PCT/CN2017/107275
Publication Date: Fri Nov 02 00:59:59 CET 2018 International Filing Date: Tue Oct 24 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01B 11/00
G01B 11/24
Applicants: SHENZHEN UNIVERSITY
深圳大学
Inventors: PENG, Xiang
彭翔
ZHANG, Yaqin
张雅琴
LIU, Xiaoli
刘晓利
YANG, Yang
杨洋
CAI, Zewei
蔡泽伟
Title: PROCÉDÉ ET APPAREIL D'ÉTALONNAGE DE PROJECTEUR FONDÉS SUR UNE PROJECTION MULTIDIRECTIONNELLE
Abstract:
L'invention concerne un procédé d'étalonnage de projecteur fondé sur une projection multidirectionnelle se rapportant au domaine technique de la mesure optique. Le procédé comprend : étape S1, l'utilisation d'un projecteur (1) afin de projeter un motif d'étalonnage prédéfini sur un plan cible dans N directions spécifiées prédéfinies autour d'une cible (3) en séquence, et la collecte d'un graphe d'informations cible à l'aide d'une caméra (2) dans chaque direction spécifiée; étape S2, le traitement du graphe d'informations cible collecté dans chaque direction spécifiée, l'obtention d'une valeur de phase précise d'un point caractéristique cible au moyen d'un calcul puis l'obtention d'une coordonnée de sous-pixel, correspondant au point caractéristique cible, dans un système de coordonnées d'image du projecteur (1); étape S3, l'utilisation des coordonnées de sous-pixel obtenues dans le système de coordonnées d'image du projecteur (1) et d'une coordonnée du monde tridimensionnel connue X du point caractéristique cible afin d'étalonner le projecteur (1) afin d'acquérir un paramètre d'étalonnage initial; et étape S4, l'utilisation d'un réglage de faisceau afin d'optimiser le paramètre d'étalonnage initial et la coordonnée du monde tridimensionnel X afin d'obtenir un paramètre d'étalonnage final. Le procédé d'étalonnage permet d'obtenir un résultat d'étalonnage final plus précis.