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1. (WO2018195986) ÉTALONNAGE DE CAPTEURS LASER
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N° de publication : WO/2018/195986 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/082584
Date de publication : 01.11.2018 Date de dépôt international : 28.04.2017
CIB :
G06T 7/00 (2017.01) ,G06T 3/00 (2006.01) ,G01S 17/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
7
Analyse d'image, p.ex. à partir d'un mappage binaire pour obtenir un mappage non binaire
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
T
TRAITEMENT OU GÉNÉRATION DE DONNÉES D'IMAGE, EN GÉNÉRAL
3
Transformation géométrique de l'image dans le plan de l'image, p.ex. à partir d'un mappage binaire pour obtenir un mappage binaire afin de créer une image différente
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
S
DÉTERMINATION DE LA DIRECTION PAR RADIO; RADIO-NAVIGATION; DÉTERMINATION DE LA DISTANCE OU DE LA VITESSE EN UTILISANT DES ONDES RADIO; LOCALISATION OU DÉTECTION DE LA PRÉSENCE EN UTILISANT LA RÉFLEXION OU LA RERADIATION D'ONDES RADIO; DISPOSITIONS ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES
17
Systèmes utilisant la réflexion ou reradiation d'ondes électromagnétiques autres que les ondes radio, p.ex. systèmes lidar
02
Systèmes utilisant la réflexion d'ondes électromagnétiques autres que des ondes radio
Déposants :
SZ DJI TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 6F, HKUST SZ Ier Bldg. No. 9 Yuexing 1st Rd. Hi-Tech Park (South), Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518057, CN
Inventeurs :
WU, Kanzhi; CN
MA, Lu; CN
Mandataire :
SHENZHEN SCIENBIZIP INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY CO., LTD.; 9F, Rongqun building No.83 Longguan East Rd., Longhua new Dist. Shenzhen, Guangdong 518109, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) CALIBRATION OF LASER SENSORS
(FR) ÉTALONNAGE DE CAPTEURS LASER
Abrégé :
(EN) A method for calibrating laser sensors carried by a mobile platform, includes determining an overlapping region of point cloud data generated by laser sensors, comparing surface features of the point clouds within the overlapping region, and generating calibration rules based thereon. A method for automatically detecting a disturbance to an emitter/detector unit carried by a mobile platform, comprising: transforming first and second point cloud information into a first and a second point cloud in a reference system associated with the mobile platform, the first and a second point cloud information obtained from the emitter/detector unit at a first and a second point in time; determining an overlapping region between the first and second point clouds; comparing surface attributes of the first and second point clouds in the overlapping region; detecting a disturbance to the emitter/detector unit based at least in part on comparing the surface attributes.
(FR) L'invention a trait à un procédé d'étalonnage de capteurs laser portés par une plateforme mobile, qui consiste à déterminer une région de chevauchement de données de nuages de points générées par des capteurs laser, à comparer des caractéristiques de surface des nuages de points dans la région de chevauchement, et à générer des règles d'étalonnage sur cette base. L'invention concerne également un procédé de détection automatique d'une perturbation subie par une unité émetteur/détecteur portée par une plateforme mobile, comprenant les étapes consistant : à transformer des premières et secondes informations de nuages de points en premier et second nuage de points dans un système de référence associé à la plateforme mobile, les premières et secondes informations de nuages de points étant obtenues à partir de l'unité émetteur/détecteur à un premier et un second instant; à déterminer une région de chevauchement entre les premier et second nuages de points; à comparer des attributs de surface des premier et second nuages de points dans la région de chevauchement; et à détecter une perturbation subie par l'unité émetteur/détecteur au moins en partie sur la base de la comparaison des attributs de surface.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)