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1. (WO2018182103) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUT ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUT L'UTILISANT

Pub. No.:    WO/2018/182103    International Application No.:    PCT/KR2017/008552
Publication Date: Fri Oct 05 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Wed Aug 09 01:59:59 CEST 2017
IPC: G01N 29/24
G01N 29/36
G01N 29/06
Applicants: SHIN, Dong Hwan
신동환
SHIN, Ye Ji
신예지
CHA, Seung Eun
차승은
Inventors: SHIN, Dong Hwan
신동환
SHIN, Ye Ji
신예지
CHA, Seung Eun
차승은
Title: DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUT ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE DÉFAUT L'UTILISANT
Abstract:
La présente invention concerne un dispositif de détection de défaut et un procédé de détection de défaut l'utilisant et, plus spécifiquement, un dispositif de détection de défaut permettant de détecter un défaut dans un objet en cours d'inspection, et un procédé de détection de défaut utilisant le dispositif. Le dispositif de détection de défaut selon un mode de réalisation de la présente invention comprend : un premier ensemble sonde permettant d'émettre un signal en direction de l'intérieur d'un objet en cours d'inspection et de recevoir un signal généré à l'intérieur de l'objet en cours d'inspection; un deuxième ensemble sonde installé à distance du premier ensemble sonde et recevant un signal généré à l'intérieur de l'objet en cours d'inspection; et une unité de détermination d'emplacement permettant de déterminer l'emplacement d'un défaut dans l'objet en cours d'inspection à l'aide d'un signal reçu en provenance du premier ensemble sonde et d'un signal reçu en provenance du deuxième ensemble sonde.