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1. (WO2018180346) CAPTEUR DE FORCE
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N° de publication : WO/2018/180346 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/009040
Date de publication : 04.10.2018 Date de dépôt international : 08.03.2018
CIB :
G01L 5/16 (2006.01) ,G01L 1/14 (2006.01) ,G06F 3/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
L
MESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
5
Appareils ou méthodes pour la mesure des forces, p.ex. de la force produite par un choc, pour la mesure du travail, de la puissance mécanique ou du couple, adaptés à des buts particuliers
16
pour la mesure de plusieurs composantes de la force
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
L
MESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
1
Mesure des forces ou des contraintes, en général
14
en mesurant les variations de la capacité ou de l'inductance des éléments électriques, p.ex. en mesurant les variations de fréquence des oscillateurs électriques
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
3
Dispositions d'entrée pour le transfert de données à traiter pour leur donner une forme utilisable par le calculateur; Dispositions de sortie pour le transfert de données de l'unité de traitement à l'unité de sortie, p.ex. dispositions d'interface
01
Dispositions d'entrée ou dispositions d'entrée et de sortie combinées pour l'interaction entre l'utilisateur et le calculateur
02
Dispositions d'entrée utilisant des interrupteurs actionnés manuellement, p.ex. des claviers ou des cadrans
Déposants : ALPS ELECTRIC CO., LTD.[JP/JP]; 1-7, Yukigaya-otsukamachi, Ota-ku, Tokyo 1458501, JP
Inventeurs : SATO, Kunio; JP
TAKAI, Daisuke; JP
OSHITA, Kazuhito; JP
SHIKATA, Hajime; JP
Mandataire : ITOH, Tadashige; JP
ITOH, Tadahiko; JP
Données relatives à la priorité :
2017-06024225.03.2017JP
Titre (EN) FORCE SENSOR
(FR) CAPTEUR DE FORCE
(JA) 力覚センサ
Abrégé :
(EN) The present invention is provided with: a base material; a first electrode that is fixed in a first area on the base material; a second electrode that is fixed in a second area different from the first area in the base material and that extends to a higher position than the first electrode; a capacitance detection unit that detects a capacitance corresponding to the distance between the first electrode and the second electrode; and an operation member that has a contact area in contact with the second electrode. At least one of the first electrode and the second electrode are provided in a multiple number. When a load is applied by an operation on the operation member, the second electrode undergoes elastic deformation and the distance between the second electrode and the first electrode is changed by this elastic deformation.
(FR) La présente invention comprend : un matériau de base ; une première électrode qui est fixée dans une première zone sur le matériau de base ; une seconde électrode qui est fixée dans une seconde zone différente de la première zone dans le matériau de base et qui s'étend jusqu'à une position plus élevée que la première électrode ; une unité de détection de capacité qui détecte une capacité qui correspond à la distance entre la première électrode et la seconde électrode ; et un élément d'actionnement qui a une zone de contact en contact avec la seconde électrode. La première électrode et/ou la seconde électrode possède une structure mono-couche. Lorsqu'une charge est appliquée par un actionnement sur l'élément d'actionnement, la seconde électrode subit une déformation élastique et la distance entre la seconde électrode et la première électrode est changée par cette déformation élastique.
(JA) 基材と、基材上の第1領域に固定された第1電極と、基材において第1領域と異なる第2領域に固定され、第1電極よりも高い位置まで延びる第2電極と、第1電極と第2電極との間の距離に対応する静電容量を検知する静電容量検知部と、第2電極と接触する接触領域を有する操作部材とを備え、第1電極と第2電極の少なくとも一方は複数設けられ、第2電極は、操作部材に対する操作によって荷重が加えられると弾性変形を生じ、この弾性変形によって第2電極と第1電極との距離が変化する。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)