WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Options
Langue d'interrogation
Stemming/Racinisation
Trier par:
Nombre de réponses par page
Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2018179380) SYSTÈME D'ÉTUDE ÉLECTROMAGNÉTIQUE, DISPOSITIF DE SUPPRESSION DE RÉFLEXION ET PROCÉDÉ D'ÉTUDE ÉLECTROMAGNÉTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2018/179380 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/013726
Date de publication : 04.10.2018 Date de dépôt international : 31.03.2017
CIB :
G01V 3/12 (2006.01) ,G01V 3/16 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
V
GÉOPHYSIQUE; MESURE DE LA GRAVITATION; DÉTECTION DES MASSES OU OBJETS; MARQUES D'IDENTIFICATION
3
Prospection ou détection électrique ou magnétique; Mesure des caractéristiques du champ magnétique de la terre, p.ex. de la déclinaison ou de la déviation
12
fonctionnant par ondes électromagnétiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
V
GÉOPHYSIQUE; MESURE DE LA GRAVITATION; DÉTECTION DES MASSES OU OBJETS; MARQUES D'IDENTIFICATION
3
Prospection ou détection électrique ou magnétique; Mesure des caractéristiques du champ magnétique de la terre, p.ex. de la déclinaison ou de la déviation
15
spécialement adaptée à l'utilisation pendant le transport, p.ex. par une personne, un véhicule ou un bateau
16
spécialement adaptée à la prospection aérienne
Déposants : NEC CORPORATION[JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001, JP
Inventeurs : TANOMURA, Masahiro; JP
Mandataire : BRIGHTAS IP ATTORNEYS; 2-5-10, Sonezaki, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300057, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ELECTROMAGNETIC SURVEY SYSTEM, REFLECTION SUPPRESSING DEVICE, AND ELECTROMAGNETIC SURVEY METHOD
(FR) SYSTÈME D'ÉTUDE ÉLECTROMAGNÉTIQUE, DISPOSITIF DE SUPPRESSION DE RÉFLEXION ET PROCÉDÉ D'ÉTUDE ÉLECTROMAGNÉTIQUE
(JA) 電磁探査システム、反射抑制装置、及び電磁探査方法
Abrégé :
(EN) An electromagnetic survey system 300 is provided with: a transmission/reception device 200 that receives reflected electromagnetic waves in the cases where electromagnetic waves are radiated from a first medium to a second medium having a specific dielectric constant that is larger than that of the first medium, and the radiated electromagnetic waves are reflected by an object 400 in the second medium; and a reflection suppressing device 200 that passes the electromagnetic waves radiated from the first medium to the second medium, and the electromagnetic waves reflected by the object 400.
(FR) L'invention concerne un système d'étude électromagnétique (300) comprenant : un dispositif d'émission/réception (200) qui reçoit des ondes électromagnétiques réfléchies dans les cas où des ondes électromagnétiques sont rayonnées depuis un premier milieu vers un second milieu présentant une constante diélectrique spécifique supérieure à celle du premier milieu, et où les ondes électromagnétiques rayonnées sont réfléchies par un objet (400) dans le second milieu; et un dispositif de suppression de réflexion (200) qui émet les ondes électromagnétiques rayonnées depuis le premier milieu vers le second milieu et les ondes électromagnétiques réfléchies par l'objet (400).
(JA) 電磁探査システム300は、第1の媒質からそれよりも比誘電率が大きい第2の媒質へと電磁波を照射し、照射した電磁波が第2の媒質内に存在する物体400で反射された場合に、反射された電磁波を受信する、送受信装置200と、第1の媒質から第2の媒質へと照射された電磁波及び物体400で反射された電磁波を通過させる、反射抑制装置200とを備えている。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)