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1. (WO2018167115) CAPTEUR DE BALAYAGE COMPRENANT UN DÉFAUT DE SPIN
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N° de publication : WO/2018/167115 N° de la demande internationale : PCT/EP2018/056327
Date de publication : 20.09.2018 Date de dépôt international : 14.03.2018
CIB :
G01R 33/32 (2006.01) ,G01N 24/10 (2006.01) ,G01R 33/12 (2006.01) ,G01Q 60/52 (2010.01) ,G01N 21/64 (2006.01) ,B82Y 35/00 (2011.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33
Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
20
faisant intervenir la résonance magnétique
28
Détails des appareils prévus dans les groupes G01R33/44-G01R33/6498
32
Systèmes d'excitation ou de détection, p.ex. utilisant des signaux radiofréquence
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
24
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de la résonance magnétique nucléaire, de la résonance paramagnétique électronique ou d'autres effets de spin
10
en utilisant la résonance paramagnétique électronique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33
Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
12
Mesure de propriétés magnétiques des articles ou échantillons de solides ou de fluides
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
Q
TECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE [SPM]
60
Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM [Scanning-Probe Microscopy] ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
50
Microscopie à forces magnétiques MFM [Magnetic Force Microscopy] ou appareils à cet effet, p.ex. sondes MFM
52
Résonance
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63
excité optiquement
64
Fluorescence; Phosphorescence
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
82
NANOTECHNOLOGIE
Y
UTILISATION OU APPLICATIONS SPÉCIFIQUES DES NANOSTRUCTURES; MESURE OU ANALYSE DES NANOSTRUCTURES; FABRICATION OU TRAITEMENT DES NANOSTRUCTURES
35
Procédés ou appareils pour la mesure ou l’analyse des nanostructures
Déposants :
ETH ZURICH [CH/CH]; Raemistrasse 101 / ETH transfer 8092 Zurich, CH
Inventeurs :
DEGEN, Christian; CH
BOSS, Jens; CH
CHANG, Kevin; CH
RHENSIUS, Jan; CH
Données relatives à la priorité :
17161281.516.03.2017EP
Titre (EN) SCANNING SENSOR COMPRISING A SPIN DEFECT
(FR) CAPTEUR DE BALAYAGE COMPRENANT UN DÉFAUT DE SPIN
Abrégé :
(EN) A sensor device comprises a carrier (10), a force feedback sensor (20), and a probe (40) containing a spin defect (46), the probe being connected to the force feedback sensor either directly or indirectly via a handle structure (30). In order to couple the spin defect to a microwave field in an efficient and robust manner, the sensor device comprises an integrated microwave antenna (50) arranged at a distance of less than 500 micrometers from the spin defect. The sensor device can be configured as a self-contained exchangeable cartridge that can easily be mounted in a sensor mount of a scanning probe microscope.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de détection qui comprend un support (10), un capteur de rétroaction de force (20), et une sonde (40) contenant un défaut de spin (46), la sonde étant connectée directement ou indirectement au capteur de rétroaction de force par l'intermédiaire d'une structure de poignée (30). Afin de coupler le défaut de spin à un champ hyperfréquence d'une manière efficace et robuste, le dispositif de capteur comprend une antenne hyperfréquence intégrée (50) agencée à une distance inférieure à 500 micromètres par rapport au défaut de spin. Le dispositif de capteur peut être configuré sous la forme d'une cartouche échangeable autonome qui peut aisément être montée dans un montage de capteur d'un microscope à sonde à balayage.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)