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1. (WO2018166201) PROCÉDÉ DE LECTURE DE DONNÉES, CIRCUIT LOGIQUE DE DÉTECTION BASSE TENSION, CIRCUIT INTÉGRÉ ET PUCE

Pub. No.:    WO/2018/166201    International Application No.:    PCT/CN2017/106699
Publication Date: Fri Sep 21 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Thu Oct 19 01:59:59 CEST 2017
IPC: G11C 16/22
Applicants: GREE ELECTRIC APPLIANCES, INC. OF ZHUHAI
珠海格力电器股份有限公司
Inventors: WEN, Langming
温浪明
CHEN, Heng
陈恒
YI, Dongbai
易冬柏
FANG, Li
方励
Title: PROCÉDÉ DE LECTURE DE DONNÉES, CIRCUIT LOGIQUE DE DÉTECTION BASSE TENSION, CIRCUIT INTÉGRÉ ET PUCE
Abstract:
L'invention concerne un procédé de lecture de données, un circuit logique de détection de basse tension, un circuit intégré et une puce. Le procédé de lecture de données comprend les étapes suivantes : lors de la réception d'une demande de lecture de données dans une mémoire non volatile (NVM), lire une valeur de retour de zone de précombustion à partir d'une zone de précombustion prédéfinie de la NVM (S101), la zone de précombustion étant un espace de stockage à l'intérieur de la NVM qui est sensible à une tension d'alimentation basse, et la tension d'alimentation basse étant une tension qui est inférieure à un seuil de tension d'alimentation ; déterminer si la valeur de retour de zone de précombustion est égale à une valeur prédéfinie cible (S102) ; lorsque la valeur de retour de zone de précombustion est égale à la valeur prédéfinie cible, générer un premier signal de commande, et envoyer le premier signal de commande à un dispositif de commande de NVM pour commander le dispositif de commande de NVM pour lire les données à l'intérieur de la NVM (S103). Le procédé peut augmenter la stabilité de lecture de données à partir de NVM, et empêcher, dans la plus grande mesure, le problème selon lequel la lecture de données est instable en raison de la tension d'alimentation de la NVM qui est dans un état anormal.