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1. (WO2018166140) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE COMMANDE DE PROCESSUS D'UNITÉ D'AFFICHAGE
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N° de publication : WO/2018/166140 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/097605
Date de publication : 20.09.2018 Date de dépôt international : 16.08.2017
CIB :
G02F 1/13 (2006.01)
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
F
DISPOSITIFS OU SYSTÈMES DONT LE FONCTIONNEMENT OPTIQUE EST MODIFIÉ PAR CHANGEMENT DES PROPRIÉTÉS OPTIQUES DU MILIEU CONSTITUANT CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES ET DESTINÉS À LA COMMANDE DE L'INTENSITÉ, DE LA COULEUR, DE LA PHASE, DE LA POLARISATION OU DE LA DIRECTION DE LA LUMIÈRE, p.ex. COMMUTATION, OUVERTURE DE PORTE, MODULATION OU DÉMODULATION; TECHNIQUES NÉCESSAIRES AU FONCTIONNEMENT DE CES DISPOSITIFS OU SYSTÈMES; CHANGEMENT DE FRÉQUENCE; OPTIQUE NON LINÉAIRE; ÉLÉMENTS OPTIQUES LOGIQUES; CONVERTISSEURS OPTIQUES ANALOGIQUES/NUMÉRIQUES
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Dispositifs ou systèmes pour la commande de l'intensité, de la couleur, de la phase, de la polarisation ou de la direction de la lumière arrivant d'une source de lumière indépendante, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation; Optique non linéaire
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pour la commande de l'intensité, de la phase, de la polarisation ou de la couleur
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basés sur des cristaux liquides, p.ex. cellules d'affichage individuelles à cristaux liquides
Déposants :
惠科股份有限公司 HKC CORPORATION LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市 宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园 Huike industrial park, Minying industrial park Shuitian country Shiyan, Bao'an District Shenzhen, Guangdong 518000, CN
重庆惠科金渝光电科技有限公司 CHONGQING HKC OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; 中国重庆市 巴南区界石镇石景路1号 No.1 Shijing Rd., Jieshi Town Ba'nan District Chongqing 401320, CN
Inventeurs :
简重光 CHIEN, Chung-Kuang; CN
Mandataire :
北京汇泽知识产权代理有限公司 BEIJING HUIZE INTELLECTUAL PROPERTY LAW LLC; 中国北京市 海淀区知春路6号锦秋国际大厦A座18层张瑾 ZHANG,Jin A18, Horizon International Tower No.6, Zhichun Road, Haidian District Beijing 100088, CN
Données relatives à la priorité :
201710149493.914.03.2017CN
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR CONTROLLING DISPLAY UNIT PROCESS
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE COMMANDE DE PROCESSUS D'UNITÉ D'AFFICHAGE
(ZH) 一种显示单元制程控制方法及系统
Abrégé :
(EN) Disclosed are a method and system for controlling a display unit process. Before first substrates and second substrates enter a display unit process, according to the quantities of defective base wafers on the first substrates and the second substrates, the first substrates and the second substrates, on which the quantities of defective base wafers are less than a pre-set number, are selected as the first substrates up to standard and the second substrates up to standard, and according to the positions of the defective base wafers on the first substrates and the second substrates, the first substrates up to standard and the second substrates up to standard are classified into a plurality of sorting grades, and in the display unit process, the first substrates and the second substrates are combined in pairs according to the sorting grades, and a pair combination with a high degree of matching is selected to enter an assembly process.
(FR) L'invention concerne un procédé et un système de commande d'un processus d'unité d'affichage. Avant que des premiers substrats et des deuxièmes substrats entrent dans un processus d'unité d'affichage, selon les quantités de tranches de base défectueuses sur les premiers substrats et les deuxièmes substrats, les premiers substrats et les deuxièmes substrats, sur lesquels les quantités de tranches de base défectueuses sont inférieures à un nombre prédéfini, sont sélectionnés en tant que premiers substrats acceptables et deuxièmes substrats acceptables, et en fonction des positions des tranches de base défectueuses sur les premiers substrats et les deuxièmes substrats, les premiers substrats acceptables et les deuxièmes substrats acceptables sont classés en une pluralité de classes de qualité, et dans le processus d'unité d'affichage, les premiers substrats et les deuxièmes substrats sont combinés par paires selon les classes de qualité, et une combinaison de paires avec un niveau élevé de correspondance est sélectionnée pour entrer dans un processus d'assemblage.
(ZH) 一种显示单元制程控制方法及系统,通过在第一基板和第二基板进入显示单元制程之前,根据第一基板和第二基板上不良基片数量,选择不良基片数量小于预设个数的第一基板和第二基板作为达标第一基板和达标第二基板,并根据第一基板和第二基板上不良基片的位置,将达标第一基板和达标第二基板划分为多个分选等级,并在显示单元制程中,按照分选等级对第一基板和第二基板进行配对组合,并选取匹配度高的配对组合进入组立制程。
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Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)