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1. (WO2018165976) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR AUTO-TEST INTÉGRÉ
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N° de publication : WO/2018/165976 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/077067
Date de publication : 20.09.2018 Date de dépôt international : 17.03.2017
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
Déposants : PHOTONIC TECHNOLOGIES (SHANGHAI) CO., LTD.[CN/CN]; Room 403, Building 19, Pudong Software Park, 498 GuoShoujing Rd. Shanghai 201203, CN
Inventeurs : LU, Ming; CN
CHIANG, Patrick Yin; CN
MA, Jianxu; CN
BAI, Rui; CN
CHEN, Xuefeng; CN
WANG, Juncheng; CN
Mandataire : ADVANCE CHINA IP LAW OFFICE; Room 3901, No. 85 Huacheng Avenue, Tianhe District, Guangzhou, Guangdong 510623, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR BUILT-IN SELF-TEST
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR AUTO-TEST INTÉGRÉ
Abrégé :
(EN) An apparatus comprises one or more non-clock and data recovery (CDR) components on a substrate, a signal generator on the substrate and coupled to at least one of the one or more non-CDR components, and a CDR component on the substrate and coupled to the one or more non-CDR components, wherein the CDR component is configured to recover clock data from a received signal by the CDR component, and configured to determine a signal based on the received signal and the clock data.
(FR) La présente invention concerne un appareil qui comprend un ou plusieurs composants de récupération de données et de non-horloge (CDR) sur un substrat, un générateur de signal sur le substrat et couplé aux un ou plusieurs composants non CDR et/ou et à un composant CDR sur le substrat et couplé au(x) composant(s) non CDR, le composant CDR étant configuré pour récupérer des données d'horloge à partir d'un signal reçu par le composant CDR et configuré pour déterminer un signal sur la base du signal reçu et des données d'horloge.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)