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1. (WO2018165001) MESURE ET UTILISATION DE PARAMÈTRES S MODIFIÉS DANS UNE ÉLECTRONIQUE DE FOUR RF À SEMI-CONDUCTEURS

Pub. No.:    WO/2018/165001    International Application No.:    PCT/US2018/020873
Publication Date: Fri Sep 14 01:59:59 CEST 2018 International Filing Date: Tue Mar 06 00:59:59 CET 2018
IPC: H05B 6/68
Applicants: ILLINOIS TOOL WORKS INC.
Inventors: CARCANO, Marco
SCLOCCHI, Michele
CHIRICO, Daniele
Title: MESURE ET UTILISATION DE PARAMÈTRES S MODIFIÉS DANS UNE ÉLECTRONIQUE DE FOUR RF À SEMI-CONDUCTEURS
Abstract:
La présente invention concerne un four qui comprend une chambre de cuisson conçue pour recevoir une charge et un système de chauffage RF conçu pour fournir de l'énergie RF dans la chambre de cuisson à l'aide de composants électroniques à semi-conducteurs. Les composants électroniques à semi-conducteurs comprennent une électronique d'amplificateur de puissance configurée pour fournir un signal dans la chambre de cuisson par l'intermédiaire d'un ensemble antenne. L'électronique d'amplificateur de puissance comprend au moins un premier amplificateur de puissance et un second amplificateur de puissance fonctionnellement couplés à la chambre de cuisson par des première et seconde antennes respectives de l'ensemble antenne. Les première et seconde antennes sont couplées fonctionnellement à des premier et second amplificateurs de puissance respectifs par l'intermédiaire d'une première structure de couplage et d'une seconde structure de couplage, respectivement. Un coupleur directionnel est disposé au niveau d'une section de port définie pour au moins l'une des première et seconde structures de couplage. Le coupleur directionnel est configuré pour fournir un paramètre d'onde avant et un paramètre d'onde réfléchie à un ensemble de mesure configuré pour calculer des paramètres S modifiés au niveau de la section de port.