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1. (WO2018164025) SPECTROMÈTRE DE MASSE
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N° de publication : WO/2018/164025 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/008215
Date de publication : 13.09.2018 Date de dépôt international : 05.03.2018
CIB :
H01J 49/16 (2006.01) ,G01N 27/62 (2006.01) ,H01J 49/04 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
10
Sources d'ions; Canons à ions
16
utilisant une ionisation de surface, p.ex. émission thermo-ionique ou photo-électrique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
62
en recherchant l'ionisation des gaz; en recherchant les décharges électriques, p.ex. l'émission cathodique
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
04
Dispositions pour introduire ou extraire les échantillons devant être analysés, p.ex. fermetures étanches au vide; Dispositions pour le réglage externe des composants électronoptiques ou ionoptiques
Déposants :
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP
Inventeurs :
古田 匡智 FURUTA, Masaji; JP
Mandataire :
特許業務法人京都国際特許事務所 KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; 京都府京都市下京区東洞院通四条下ル元悪王子町37番地 豊元四条烏丸ビル Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
Données relatives à la priorité :
2017-04633810.03.2017JP
Titre (EN) MASS SPECTROMETER
(FR) SPECTROMÈTRE DE MASSE
(JA) 質量分析装置
Abrégé :
(EN) A mass spectrometer comprising an ionization chamber (10) in which samples are ionized using laser ionization, wherein there are provided: an opening (12) comprising a door (13) that can open and close, the opening (12) being provided in a side surface of the ionization chamber (10); a vent hole (14) provided in the surface opposing the opening (12) of the ionization chamber (10); and gas supply means (64), (67) that supply high-pressure cleaning gas to the ionization chamber (10) via the vent hole (14). According to such a configuration, the high-pressure cleaning gas is caused to flow into the ionization chamber (10) from the gas supply means (64), (67) in a state in which the door (13) is open, whereby the flow of the cleaning gas removes particles such as fragments of bacteria deposited on a floor surface inside the ionization chamber (10) and washes away particles floating near the floor surface, making it possible to discharge such particles to the outside.
(FR) La présente invention concerne un spectromètre de masse comprenant une chambre d'ionisation (10) dans laquelle des échantillons sont ionisés à l'aide d'une ionisation laser, une ouverture (12) comprenant une porte (13) qui peut s'ouvrir et se fermer, l'ouverture (12) étant disposée dans une surface latérale de la chambre d'ionisation (10) ; un trou d'évent (14) disposé dans la surface opposée à l'ouverture (12) de la chambre d'ionisation (10) ; et des moyens d'alimentation en gaz (64), (67) qui fournissent un gaz de nettoyage haute pression à la chambre d'ionisation (10) par l'intermédiaire du trou d'évent (14). Selon une telle configuration, le gaz de nettoyage haute pression est amené à circuler dans la chambre d'ionisation (10) à partir des moyens d'alimentation en gaz (64), (67) dans un état dans lequel la porte (13) est ouverte, grâce à quoi la circulation du gaz de nettoyage élimine des particules telles que des fragments de bactéries déposés sur une surface de sol à l'intérieur de la chambre d'ionisation (10) et lave les particules flottant à proximité de la surface de sol, permettant d'évacuer de telles particules vers l'extérieur.
(JA) レーザイオン化による試料のイオン化を行うイオン化室(10)を備えた質量分析装置において、イオン化室(10)の側面に設けられた、開閉可能な扉(13)を備えた開口部(12)と、イオン化室(10)の開口部(12)と対向する面に設けられた通気口(14)と、通気口(14)を介してイオン化室(10)に高圧の清掃用ガスを供給するガス供給手段(64)、(67)とを設ける。このような構成によれば、扉(13)を開放した状態でガス供給手段(64)、(67)からイオン化室(10)内に高圧の清掃用ガスを流入させることにより、該清掃用ガスの流れによって、イオン化室(10)内の床面に堆積した菌体の破片などの粒子を巻き上げたり、床面付近を漂っている粒子を押し流したりして外部に排出することができる。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)