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1. (WO2018163755) MÉCANISME DE POSITIONNEMENT DESTINÉ À UNE BORNE D'INSPECTION KELVIN ET SUPPORT DE CIRCUIT INTÉGRÉ ÉQUIPÉE DE CE DERNIER
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N° de publication : WO/2018/163755 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/005385
Date de publication : 13.09.2018 Date de dépôt international : 16.02.2018
CIB :
G01R 31/26 (2014.01) ,G01R 1/067 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01) ,H01R 33/76 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
26
Essai de dispositifs individuels à semi-conducteurs
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
06
Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067
Sondes de mesure
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
06
Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067
Sondes de mesure
073
Sondes multiples
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
R
CONNEXIONS CONDUCTRICES DE L'ÉLECTRICITÉ; ASSOCIATION STRUCTURELLE DE PLUSIEURS ÉLÉMENTS DE CONNEXION ÉLECTRIQUE ISOLÉS LES UNS DES AUTRES; DISPOSITIFS DE COUPLAGE; COLLECTEURS DE COURANT
33
Dispositifs de couplage spécialement conçus pour supporter un appareil et munis d'une pièce de couplage assurant la fonction de support et la connexion électrique par l'intermédiaire d'une pièce complémentaire qui est structurellement associée à l'appareil, p.ex. supports de lampes; Leurs pièces détachées
74
Dispositifs ayant quatre pôles ou plus
76
Supports avec alvéoles, pinces ou contacts analogues, adaptés pour l'engagement axial par glissement, avec des broches, lames ou contacts analogues disposés parallèlement sur la pièce complémentaire, p.ex. support pour tube électronique
Déposants :
山一電機株式会社 YAMAICHI ELECTRONICS CO., LTD. [JP/JP]; 東京都大田区南蒲田2-16-2 2-16-2, Minamikamata, Ota-ku Tokyo 1448581, JP
Inventeurs :
鈴木 勝己 SUZUKI Katsumi; JP
齋藤 朋徳 SAITO Tomonori; JP
Données relatives à la priorité :
2017-04665210.03.2017JP
Titre (EN) POSITIONING MECHANISM FOR KELVIN INSPECTION TERMINAL AND IC SOCKET PROVIDED WITH SAME
(FR) MÉCANISME DE POSITIONNEMENT DESTINÉ À UNE BORNE D'INSPECTION KELVIN ET SUPPORT DE CIRCUIT INTÉGRÉ ÉQUIPÉE DE CE DERNIER
(JA) ケルビン検査用端子の位置決め機構、および、それを備えるICソケット
Abrégé :
(EN) This positioning mechanism for a Kelvin inspection terminal makes it possible to simply assemble a Kelvin inspection terminal together with an IC socket and enhance the accuracy of the positioning of the Kelvin inspection terminal in relation to semiconductor device electrode parts. A mounting base 20 for an object of inspection has a plurality of holes 20ai into which electrode parts DVa of a semiconductor device DV are inserted and by which the electrode parts DVa are positioned. The bottom parts of the holes 20ai have, formed in two locations, through holes 20d into which device plungers 12 for each probe 10 are inserted.
(FR) Selon la présente invention, ce mécanisme de positionnement destiné à une borne d'inspection Kelvin permet d'assembler simplement une borne d'inspection Kelvin avec un support de circuit intégré et d'améliorer la précision du positionnement de la borne d'inspection Kelvin par rapport aux parties d'électrode de dispositif semi-conducteur. Une base de montage (20) destinée à un objet d'inspection a une pluralité de trous (20a) dans lesquels des parties d'électrode (DVa) d'un dispositif semi-conducteur (DV) sont insérées et par lesquelles les parties d'électrode (DVa) sont positionnées. Les parties inférieures des trous (20ai) présentent, sur deux emplacements, des trous traversants (20d) dans lesquels des plongeurs de dispositif (12) destinés à chaque sonde (10) sont insérés.
(JA) ケルビン検査用端子の位置決め機構において、ケルビン検査用端子をICソケットに簡単に組み付けることができ、しかも、ケルビン検査用端子の半導体装置の電極部に対する位置決め精度を向上させることができる。被検査物搭載台20は、半導体装置DVの各電極部DVaが挿入され位置決めされる複数の孔20aiを有し、孔20aiの底部には、各プローブ10のデバイス用プランジャー12が挿入される貫通孔20dが2箇所に形成されているもの。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)