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1. (WO2018162048) APPAREIL D'ESSAI ET PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION D'UN DISPOSITIF À L'ESSAI
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N° de publication : WO/2018/162048 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/055370
Date de publication : 13.09.2018 Date de dépôt international : 07.03.2017
CIB :
G06F 11/36 (2006.01) ,G06F 11/22 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
36
Prévention d'erreurs en effectuant des tests ou par débogage de logiciel
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
22
Détection ou localisation du matériel d'ordinateur défectueux en effectuant des tests pendant les opérations d'attente ou pendant les temps morts, p.ex. essais de mise en route
Déposants :
RIVOIR, Jochen [DE/DE]; DE (US)
ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-6-2, Marunouchi, Chiyoda-ku Tokyo, 100-0005, JP (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KH, KM, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
Inventeurs :
RIVOIR, Jochen; DE
Mandataire :
BURGER, Markus; DE
ZIMMERMANN, Tankred; DE
STÖCKELER, Ferdinand; DE
ZINKLER, Franz; DE
SCHENK, Markus; DE
HERSINA, Günter; DE
SCHAIRER, Oliver; DE
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TEST APPARATUS AND METHOD FOR CHARACTERIZING A DEVICE UNDER TEST
(FR) APPAREIL D'ESSAI ET PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION D'UN DISPOSITIF À L'ESSAI
Abrégé :
(EN) A test apparatus (2) for characterizing a device under test (4) is shown. The test apparatus (2) comprises a test case generator (6), a test unit (8), a data storage unit (10), and a data analysis unit (12). The test case generator (6) is configured to randomly generate a plurality of test cases (14), wherein a test case (14) comprises values of one or more input variables (16a), (16) of a set of input variables (16). The test unit (8) is configured to perform the plurality of test cases (14) on the device under test (4). Moreover, the data storage unit may store sets of test data (18), wherein the sets of test data (18) are associated to the test cases (14) and wherein the sets of test data (18) comprise values of input variables of a respective test case and corresponding values of output variables of the device under test (4) related to the respective test case. The data analysis unit (12) may further analyze the test data (18), wherein the data analysis unit (12) is further configured to determine dependencies within a subset of variables of the test data (18) to characterize the device under test.
(FR) L'invention concerne un appareil d'essai (2) permettant de caractériser un dispositif à l'essai (4). L'appareil d'essai (2) comprend un générateur de cas type (6), une unité de test (8), une unité de stockage de données (10) et une unité d'analyse de données (12). Le générateur de cas type est configuré pour générer de manière aléatoire une pluralité de cas types (14), un cas type (14) comprenant les valeurs d'une ou de plusieurs variables d'entrée (16a, 16) d'un ensemble de variables d'entrée. L'unité d'essai (8) est configurée pour exécuter la pluralité de cas types (14) sur le dispositif à l'essai. De plus, l'unité de stockage de données peut stocker des ensembles de données d'essai (18), les ensembles de données d'essai (18) étant associés aux cas types (14) et les ensembles de données d'essai (18) comprenant les valeurs de variables d'entrée d'un cas type respectif ainsi que les valeurs correspondantes de variables de sortie du dispositif à l'essai (4) associé cas type respectif. L'unité d'analyse de données (12) peut également analyser les données d'essai (18), l'unité d'analyse de données (12) étant également configurée pour déterminer des dépendances dans un sous-ensemble de variables des données d'essai (18) afin de caractériser le dispositif à l'essai.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)