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1. (WO2018162047) TESTEUR ET PROCÉDÉ POUR TESTER UN DISPOSITIF EN COURS DE TEST ET TESTEUR ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UNE FONCTION DE DÉCISION UNIQUE
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N° de publication : WO/2018/162047 N° de la demande internationale : PCT/EP2017/055368
Date de publication : 13.09.2018 Date de dépôt international : 07.03.2017
CIB :
G01R 31/28 (2006.01) ,G06F 11/36 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
36
Prévention d'erreurs en effectuant des tests ou par débogage de logiciel
Déposants :
RIVOIR, Jochen [DE/DE]; DE (US)
ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-6-2, Marunouchi, Chiyoda-ku Tokyo, 100-0005, JP (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KH, KM, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
Inventeurs :
RIVOIR, Jochen; DE
Mandataire :
BURGER, Markus; DE
ZIMMERMANN, Tankred; DE
STÖCKELER, Ferdinand; DE
ZINKLER, Franz; DE
SCHENK, Markus; DE
HERSINA, Günter; DE
SCHAIRER, Oliver; DE
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TESTER AND METHOD FOR TESTING A DEVICE UNDER TEST AND TESTER AND METHOD FOR DETERMINING A SINGLE DECISION FUNCTION
(FR) TESTEUR ET PROCÉDÉ POUR TESTER UN DISPOSITIF EN COURS DE TEST ET TESTEUR ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UNE FONCTION DE DÉCISION UNIQUE
Abrégé :
(EN) An apparatus for determining a single decision function (A) is shown. The apparatus is configured to obtain measurements [ x ] from a plurality of devices under test corresponding to stimulating signals applied to the plurality of devices under test. The stimulating signals correspond to a set of tests performed on the plurality [ N ] of devices under test. The apparatus may further determine a subset of tests from the set of tests, such that the subset of tests is relevant for indicating whether the plurality of devices under test pass the set of tests. The apparatus may also determine the single decision function applicable to measurements from an additional device under test tested using the subset of tests, such that the single decision function is adapted to predict a test result (B) for the set of tests on the basis of the subset of tests.
(FR) Un appareil pour déterminer une fonction de décision unique (A) est montré. L'appareil est configuré pour obtenir des mesures [ x ] à partir d'une pluralité de dispositifs en cours de test correspondant à des signaux de stimulation appliqués à la pluralité de dispositifs en cours de test. Les signaux de stimulation correspondent à un ensemble de tests effectués sur la pluralité [ N ] de dispositifs en cours de test. L'appareil peut en outre déterminer un sous-ensemble de tests à partir de l'ensemble de tests, de telle sorte que le sous-ensemble de tests est pertinent pour indiquer si la pluralité de dispositifs en cours de test réussissent l'ensemble de tests. L'appareil peut également déterminer la fonction de décision unique applicable à des mesures à partir d'un dispositif supplémentaire soumis à des tests et testé à l'aide du sous-ensemble de tests, de telle sorte que la fonction de décision unique est adaptée à la prédiction d'un résultat de test (B) pour l'ensemble de tests sur la base du sous-ensemble de tests.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)