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1. (WO2018159272) DISPOSITIF DE MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À PHOTOÉMISSION À RÉSOLUTION TEMPORELLE ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION D'IMAGE DYNAMIQUE DE PORTEUSE À L'AIDE DUDIT DISPOSITIF
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N° de publication : WO/2018/159272 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/004734
Date de publication : 07.09.2018 Date de dépôt international : 09.02.2018
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 04.07.2018
CIB :
G01N 23/227 (2018.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
22
en mesurant l'émission secondaire
227
en mesurant l'effet photo-électrique, p.ex. électrons Auger
Déposants :
国立大学法人東京工業大学 TOKYO INSTITUTE OF TECHNOLOGY [JP/JP]; 東京都目黒区大岡山2丁目12番1号 2-12-1, Ookayama, Meguro-ku, Tokyo 1528550, JP
大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構 INTER-UNIVERSITY RESEARCH INSTITUTE CORPORATION HIGH ENERGY ACCELERATOR RESEARCH ORGANIZATION [JP/JP]; 茨城県つくば市大穂1番地1 1-1, Oho, Tsukuba-shi, Ibaraki 3050801, JP
Inventeurs :
腰原 伸也 KOSHIHARA, Shinya; JP
福本 恵紀 FUKUMOTO, Keiki; JP
Mandataire :
青木 篤 AOKI, Atsushi; JP
三橋 真二 MITSUHASHI, Shinji; JP
南山 知広 MINAMIYAMA, Chihiro; JP
遠藤 力 ENDO, Tsutomu; JP
Données relatives à la priorité :
2017-03713928.02.2017JP
Titre (EN) TIME-RESOLVED PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND METHOD FOR ACQUIRING CARRIER DYNAMICS IMAGE USING SAID DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE À PHOTOÉMISSION À RÉSOLUTION TEMPORELLE ET PROCÉDÉ D'ACQUISITION D'IMAGE DYNAMIQUE DE PORTEUSE À L'AIDE DUDIT DISPOSITIF
(JA) 時間分解光電子顕微鏡装置および当該装置によるキャリアダイナミクス画像の取得方法
Abrégé :
(EN) This time-resolved photoemission electron microscope device has a laser light source (1) for repeated variable frequency output of pulses having a pulse width at the femtosecond level or lower, a pump light generation unit for subjecting the light output from the laser light source to wavelength conversion and thereby generating pump light (8) for exciting photocarriers of a sample, and a probe light generation unit for subjecting the light output from the laser light source to wavelength conversion and thereby generating probe light (7) for causing the photocarriers excited by the pump light to be emitted from the sample through the photoelectric effect. At least one from among the energy of the pump light and probe light is continuously variable.
(FR) L'invention concerne un dispositif de microscope électronique à photoémission à résolution temporelle comprenant une source de lumière laser (1) à sortie de fréquence variable répétée d'impulsions ayant une largeur d'impulsion au niveau femtoseconde ou inférieure, une unité de production de lumière de pompage permettant de soumettre la sortie de lumière de la source de lumière laser à une conversion de longueur d'onde et de produire ainsi une lumière de pompage (8) pour exciter des photoporteurs d'un échantillon, et une unité de production de lumière de sondage permettant de soumettre la sortie de lumière de la source de lumière laser à une conversion de longueur d'onde et de produire ainsi une lumière de sondage (7) pour provoquer l'émission des photoporteurs excités par la lumière de pompage à partir de l'échantillon par l'effet photoélectrique. L'énergie de la lumière de pompage et/ou de la lumière de sondage est variable en continu.
(JA) 時間分解光電子顕微鏡装置は、パルス幅がフェムト秒レベル以下のパルスを繰り返し周波数可変に出力するレーザー光源(1)と、レーザー光源から出力される光の波長を変換して、試料の光キャリアを励起するポンプ光(8)を生成するポンプ光生成部と、レーザー光源から出力される光の波長を変換して、ポンプ光によって励起された光キャリアを光電効果によって試料から放出するプローブ光(7)を生成するプローブ光生成部と、を有し、ポンプ光およびプローブ光の少なくとも一方のエネルギーは、連続的に変更可能である。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)