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1. (WO2018158435) DÉFLECTOMÈTRE, MOTIF DE RÉFÉRENCE ET PROCÉDÉ SERVANT À DÉFINIR LA TOPOGRAPHIE D'UN OBJET
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N° de publication : WO/2018/158435 N° de la demande internationale : PCT/EP2018/055190
Date de publication : 07.09.2018 Date de dépôt international : 02.03.2018
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 28.12.2018
CIB :
G01B 11/25 (2006.01) ,A61B 3/10 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
25
en projetant un motif, p.ex. des franges de moiré, sur l'objet
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
3
Appareils pour l'examen optique des yeux; appareils pour pour l'examen clinique des yeux
10
du type à mesure objective, c. à d. instruments pour l'examen des yeux indépendamment des perceptions ou des réactions du patient
Déposants :
FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. [DE/DE]; Hansastraße 27c 80686 München, DE
KARLSRUHER INSTITUT FÜR TECHNOLOGIE [DE/DE]; Kaiserstraße 12 76131 Karlsruhe, DE
Inventeurs :
ZIEBARTH, Mathias; DE
STEPHAN, Thomas; DE
BURKE, Jan; DE
Mandataire :
ZIMMERMANN, Tankred; DE
STÖCKELER, Ferdinand; DE
ZINKLER, Franz; DE
SCHENK, Markus; DE
HERSINA, Günter; DE
BURGER, Markus; DE
SCHAIRER, Oliver; DE
PFITZNER, Hannes; DE
KÖNIG, Andreas; DE
Données relatives à la priorité :
10 2017 203 390.802.03.2017DE
Titre (EN) DEFLECTOMETER, REFERENCE PATTERN AND METHOD FOR DETERMINING THE TOPOGRAPHY OF AN OBJECT
(FR) DÉFLECTOMÈTRE, MOTIF DE RÉFÉRENCE ET PROCÉDÉ SERVANT À DÉFINIR LA TOPOGRAPHIE D'UN OBJET
(DE) DEFLEKTOMETER, REFERENZMUSTER UND VERFAHREN ZUR TOPOGRAFIEBESTIMMUNG EINES OBJEKTS
Abrégé :
(EN) The invention relates to a deflectometer for determining the topography of an object, having a display, which is designed to reproduce a reference pattern. The reference pattern comprises a first plurality of spirals and a second plurality of spirals, wherein the direction of turn of the first plurality of spirals is opposite to the direction of turn of the second plurality of spirals. The deflectometer is further designed to provide topographic information regarding the object, on the basis of a reflection of the reference pattern on the object.
(FR) L'invention concerne un déflectomètre servant à définir la topographie d'un objet, comprenant un affichage, qui est configuré pour reproduire un motif de référence. Le motif de référence comporte une première multitude de spirales et une deuxième multitude de spirales. Une direction d'enroulement de la première multitude de spirales est opposée à une direction d'enroulement de la deuxième multitude de spirales. En outre, le déflectomètre est configuré pour fournir, sur la base d'une réflexion du motif de référence sur l'objet, une information topographique concernant l'objet.
(DE) Deflektometer zur Topografiebestimmung eines Objekts, mit einer Anzeige, die ausgelegt ist, um ein Referenzmuster wiederzugeben. Das Referenzmuster weist eine erste Mehrzahl von Spiralen auf und eine zweite Mehrzahl von Spiralen auf, wobei eine Wicklungsrichtung der ersten Mehrzahl von Spiralen entgegengesetzt zu einer Wicklungsrichtung der zweiten Mehrzahl von Spiralen ist. Ferner ist das Deflektometer ausgelegt, basierend auf einer Reflektion des Referenzmusters an dem Objekt eine topografische Information über das Objekt bereitzustellen.
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Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)